一种温度校准的装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108562378B

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN201810275623.8

    申请日:2018-03-30

    IPC分类号: G01K15/00

    摘要: 本发明实施例涉及一种温度校准的装置,包括:样品台(1),样品台(1)处于真空红外加热条件下;石英托管(5),连接并支撑样品台(1),处于真空红外加热条件下;K型热电偶(2),穿过所述石英托管(5),其测温端置于所述样品台(1)之内;块状介质(3),位于样品台(1)之内,块状介质(3)加工有孔;S型热电偶(4),穿过石英托管(5),其测温端插入所述块状介质(3)的孔之内,根据所述S型热电偶(4)测得的温度,对所述K型热电偶(2)所测量到的温度进行校准;其中,所述块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90,导热系数不低于60~70W/(m·K)。本发明实施例提供的温度校准的装置能够针对真空红外加热的特殊环境,对K偶进行温度校准。

    一种温度校准的装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108562378A

    公开(公告)日:2018-09-21

    申请号:CN201810275623.8

    申请日:2018-03-30

    IPC分类号: G01K15/00

    摘要: 本发明实施例涉及一种温度校准的装置,包括:样品台(1),样品台(1)处于真空红外加热条件下;石英托管(5),连接并支撑样品台(1),处于真空红外加热条件下;K型热电偶(2),穿过所述石英托管(5),其测温端置于所述样品台(1)之内;块状介质(3),位于样品台(1)之内,块状介质(3)加工有孔;S型热电偶(4),穿过石英托管(5),其测温端插入所述块状介质(3)的孔之内,根据所述S型热电偶(4)测得的温度,对所述K型热电偶(2)所测量到的温度进行校准;其中,所述块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90,导热系数不低于60~70W/(m·K)。本发明实施例提供的温度校准的装置能够针对真空红外加热的特殊环境,对K偶进行温度校准。

    一种温度测量的装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108195478A

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201810275515.0

    申请日:2018-03-30

    IPC分类号: G01K7/02 G01K13/00

    摘要: 本发明实施例涉及一种温度测量的装置,包括:样品台(1),所述样品台(1)处于真空红外加热条件下;石英托管(2),所述石英托管(2)连接并支撑样品台(1),处于真空红外加热条件下;块状介质(3),位于所述样品台(1)之内,所述块状介质(3)加工有孔;热电偶(4),所述热电偶(4)穿过石英托管(2),其测温端插入块状介质(3)的所述孔之内;其中,块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90,导热系数不低于60~70W/(m·K)。本发明实施例提供一种温度测量的装置能够针对真空红外加热的特殊环境,准确测量样品台内的温度。

    一种温度校准的装置
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN207964129U

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201820442162.4

    申请日:2018-03-30

    IPC分类号: G01K15/00

    摘要: 本实用新型实施例涉及一种温度校准的装置,包括:样品台,样品台处于真空红外加热条件下;石英托管,连接并支撑样品台,处于真空红外加热条件下;K型热电偶,穿过所述石英托管,其测温端置于所述样品台之内;块状介质,位于样品台之内,块状介质加工有孔;S型热电偶,穿过石英托管,其测温端插入所述块状介质的孔之内,根据所述S型热电偶测得的温度,对所述K型热电偶所测量到的温度进行校准;其中,所述块状介质的红外辐射吸收率不低于0.90,导热系数不低于60~70W/(m·K)。本实用新型实施例提供的温度校准的装置能够针对真空红外加热的特殊环境,对K偶进行温度校准。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种温度测量的装置
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN207964111U

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201820442406.9

    申请日:2018-03-30

    IPC分类号: G01K7/02 G01K13/00

    摘要: 本实用新型实施例涉及一种温度测量的装置,包括:样品台(1),所述样品台(1)处于真空红外加热条件下;石英托管(2),所述石英托管(2)连接并支撑样品台(1),处于真空红外加热条件下;块状介质(3),位于所述样品台(1)之内,所述块状介质(3)加工有孔;热电偶(4),所述热电偶(4)穿过石英托管(2),其测温端插入块状介质(3)的所述孔之内;其中,块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90,导热系数不低于60~70W/(m·K)。本实用新型实施例提供一种温度测量的装置能够针对真空红外加热的特殊环境,准确测量样品台内的温度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种采用对比法测量材料Seebeck系数的装置及方法

    公开(公告)号:CN109613051B

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN201811242049.2

    申请日:2018-10-24

    IPC分类号: G01N25/20

    摘要: 本发明涉及一种采用对比法测量材料Seebeck系数的装置,装置包括样品台、加热电源、数据采集装置,所述样品台包括夹具,夹具包括下夹具和上夹具,样品包括标准样品和测试样品,标准样品和测试样品均夹于下夹具和上夹具之间,下夹具中安装有加热棒。本发明通过测试样品和标准样品的对比,间接测量材料的Seebeck系数,和直接测量方便对比,避免样品两端温度测量不准确的问题,温度测量不准确是Seebeck系数测量中最大的误差来源,而且该系统只需要测量测试样品和标准样品两端的电势差即可,因为不需要测量样品两侧温度,大大减少了系统中的信号引线,使系统更加简单有效,同时使用石墨电极和样品接触,避免了测试过程中热电偶腐蚀的问题。

    一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统及方法

    公开(公告)号:CN109406569A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201811244447.8

    申请日:2018-10-24

    IPC分类号: G01N25/20 G01R31/26

    摘要: 本发明涉及一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统及方法,系统包括样品台、测试芯片、待测样品、永磁体、数据采集及测量模块,所述待测样品设置于所述测试芯片中,所述测试芯片位于所述样品台中;所述永磁体位于所述样品台的一侧,用于给所述样品台中的待测样品提供测试磁场;所述数据采集及测量模块通过测试芯片与待测样品电连接,用于给待测样品提供测试电流以及用于测量待测样品的电参数;所述测试芯片包括用于测量待测样品两端温度的温度计以及用于给待测样品其中一端进行加热的加热器。本发明将Seebeck系数、电阻率和霍尔系数测量集成到同一个装置上,同一个待测样品的这三个物理量在变温过程中一次测量完成。

    一种测量薄膜横向热导率的方法及装置

    公开(公告)号:CN107966470A

    公开(公告)日:2018-04-27

    申请号:CN201710832672.2

    申请日:2017-09-15

    IPC分类号: G01N25/20 G01N25/18

    摘要: 本发明提供一种测量薄膜横向热导率的方法,先用3ω法,以沉积在待测薄膜表面的第二金属条为加热源,测量待测薄膜的纵向热导率;待测薄膜底部设有衬底;纵向为垂直于待测薄膜的方向;再用3ω法,以第一金属条为加热源,测得待测薄膜纵向方向上的温升,结合已测得的纵向热导率推导出待测薄膜纵向方向上的热功率;同时测得第一金属条的温升,以及第一金属条的温升在待测薄膜横向产生的热场导致第二金属条的温升;最后计算厚度为d的待测薄膜的横向热导率。本发明采用“衬底/待测薄膜/金属条”样品结构,有效避免制备悬浮结构样品的工艺难点;使用双金属条可有精确地测量薄膜横向温差,测量结果精确度更高。

    纳米尺度材料热导率的测试方法及装置

    公开(公告)号:CN108398456B

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN201810067584.2

    申请日:2018-01-24

    IPC分类号: G01N25/20

    摘要: 本发明提供了一种纳米尺度材料热导率的测试方法及装置,该方法包括以下步骤:在衬底上制备或放置待测纳米尺度材料并在两端镀电极;将待测纳米尺度材料及衬底置于环境温度T可变的气体氛围中,测得不同环境温度下待测纳米尺度材料的电阻值,由此确定待测纳米尺度材料的电阻温度系数R以及环境温度T0下的电阻R0;在气体氛围的环境温度T0下,在待测纳米尺度材料两端施加频率为ω的激励电流,待测纳米尺度材料上将产生频率3ω的小信号电压V3ω;测得该小信号电压V3ω,并结合各测试数据,根据公式计算得到待测纳米尺度材料在环境温度T0时的热导率κ。本发明能准确测定各种材料在纳米尺度下的热导率,使测试结构和测试环境更加简单。

    一种采用对比法测量材料Seebeck系数的装置及方法

    公开(公告)号:CN109613051A

    公开(公告)日:2019-04-12

    申请号:CN201811242049.2

    申请日:2018-10-24

    IPC分类号: G01N25/20

    摘要: 本发明涉及一种采用对比法测量材料Seebeck系数的装置,装置包括样品台、加热电源、数据采集装置,所述样品台包括夹具,夹具包括下夹具和上夹具,样品包括标准样品和测试样品,标准样品和测试样品均夹于下夹具和上夹具之间,下夹具中安装有加热棒。本发明通过测试样品和标准样品的对比,间接测量材料的Seebeck系数,和直接测量方便对比,避免样品两端温度测量不准确的问题,温度测量不准确是Seebeck系数测量中最大的误差来源,而且该系统只需要测量测试样品和标准样品两端的电势差即可,因为不需要测量样品两侧温度,大大减少了系统中的信号引线,使系统更加简单有效,同时使用石墨电极和样品接触,避免了测试过程中热电偶腐蚀的问题。