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公开(公告)号：CN101929968A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200910209585.7
申请日：2009-10-30
摘要： 本发明提供一种热扩散率测量装置，该装置包括激发光源，其产生激发光束；光学控制装置，其具有光学部件组、光束质量分析仪和能量计，该光学控制装置通过光学部件组中的可更换的光学元件对激发光束的能量进行调整；真空加热炉，在其内部设置有加热元件对样品进行加热；控温装置，对真空加热炉的加热温度进行控制；测温装置，通过探测器将测得的样品温升信号经前置放大器放大后传送到数据采集处理装置；数据采集处理装置，其包括数据采集系统和数据处理系统，数据采集系统将所采集到的所有数据信号传递到数据处理系统，数据处理系统对数据信号进行分析和多项理论修正处理。通过本发明所设计的激光热扩散率测量装置，材料热扩散率的测量重复性达到1％以内，降低了测量不确定度，提高了热扩散率测量的水平，为我国热扩散率标准装置的建立，热扩散率标准物质的制备及热扩散率标准数据库的建立奠定基础。
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公开(公告)号：CN101929968B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200910209585.7
申请日：2009-10-30
摘要： 本发明提供一种热扩散率测量装置，该装置包括激发光源，其产生激发光束；光学控制装置，其具有光学部件组、光束质量分析仪和能量计，该光学控制装置通过光学部件组中的可更换的光学元件对激发光束的能量进行调整；真空加热炉，在其内部设置有加热元件对样品进行加热；控温装置，对真空加热炉的加热温度进行控制；测温装置，通过探测器将测得的样品温升信号经前置放大器放大后传送到数据采集处理装置；数据采集处理装置，其包括数据采集系统和数据处理系统，数据采集系统将所采集到的所有数据信号传递到数据处理系统，数据处理系统对数据信号进行分析和多项理论修正处理。通过本发明所设计的激光热扩散率测量装置，材料热扩散率的测量重复性达到1％以内，降低了测量不确定度，提高了热扩散率测量的水平，为我国热扩散率标准装置的建立，热扩散率标准物质的制备及热扩散率标准数据库的建立奠定基础。
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公开(公告)号：CN201819892U
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200920220398.4
申请日：2009-10-30
IPC分类号： G01N25/20
摘要： 本实用新型涉及一种光学控制装置，其安装在热扩散率测量装置上，包括光学部件组、光束质量分析仪和能量计，所述光学部件组具有第一分光器件、第二分光器件、第一光学片和第二光学片，能量计和光束质量分析仪对激光器的输出能量和光斑质量进行实时监测，减小由光斑非均匀性加热带来的测量误差，其中第一光学片和第二光学片为可更换部件，采用不同衰减系数的第一和第二光学片的组合，获得了一系列不同能量的高均匀性光斑，提高了材料热扩散率测量的准确定性。
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公开(公告)号：CN104765077B
公开(公告)日：2017-09-12
申请号：CN201510141023.9
申请日：2015-03-27
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01W1/18
摘要： 本发明提供了红外遥感亮度温度国家计量标准装置，其包括：被校黑体真空低温舱，其能够适用于不同尺寸的被校黑体；标准变温黑体，其具有预定的温度范围；零点黑体，该零点黑体被置于液氮环境中；光路切换舱，所述光路切换舱被校黑体真空低温舱、所述零点黑体进行连接；所述光路切换舱通过真空低温光路与傅立叶光谱仪测量系统进行连接。本发明的计量标准装置具有扩展性强，标定黑体的口径大，不确定度水平高等特点，为我国红外遥感亮度温度的溯源提供了重要保障，满足我国红外遥感的量值溯源需求。
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公开(公告)号：CN104913849A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201510140944.3
申请日：2015-03-27
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01J5/00
摘要： 本发明提供了一种面源黑体及其制造方法，其包括：底板，该底板用于形成面源黑体的支撑结构；形成于所述底板上的预定数量的锥体，所述锥体按照预定的方式在所述底板上排布；至少一部分的所述锥体与所述底板为一体式结构，至少另一部分的所述锥体为独立成型。本发明的面源黑体制作简单，节省了加工工艺，降低了成本，且制造方便，便于迅速组装，且能够制成大面积的面源黑体，具有很高的发射率，满足了红外谱段的检定需求。
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公开(公告)号：CN101788347A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201010100245.3
申请日：2010-01-25
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明涉及一种准绝热密封型氩三相点复现装置，其包含有外筒体和上盖，与上盖连接的三相点容器，所述复现装置内设置有真空室，所述三相点容器位于真空室的中心，在所述三相点容器上部的外侧面上贴有第一加热膜，在所述真空室与所述三相点容器之间设置有辐射屏，在所述辐射屏的外侧面和底面上贴有第二加热膜，在所述三相点容器的下部设置有均温块，在所述均温块中设置有多个用于长杆铂电阻温度计阱的插口通道，在所述均温块的中心开有用于套管铂电阻温度计阱的插口通道。采用上述结构的氩三相点复现装置在实验和应用中复现的准确性得到提高，温坪持续时间长，提高了检定效率以及保障了温度基准的传递。
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公开(公告)号：CN113237574B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202110497796.6
申请日：2021-05-08
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明涉及一种温度计的非唯一性的评测方法，包括：将精密测温电桥的Rs端接入标准电阻，借助转换开关使精密测温电桥的Rt端分别接入温度计，测量每支温度计在标准电阻为Rs下对应的阻值；之后，将精密电桥Rs端接入一支温度计，将Rt端分别接入其余温度计，测量这些温度计在该Rs下对应的阻值；完成一轮至多轮循环后，计算每支温度计在作为被测温度计时测得的所有阻值平均值作为该温度计阻值，利用ITS‑90温标将阻值换算成温度，比较各个温度计温度差可实现该温度下温度计的非唯一性测量。
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