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    操作测定系统的方法及ECL免疫测定系统
    1.
    发明公开
    操作测定系统的方法及ECL免疫测定系统 审中-实审

    公开(公告)号：CN116832890A

    公开(公告)日：2023-10-03

    申请号：CN202310845722.6

    申请日：2016-04-06

    申请人： 中尺度技术有限责任公司

    发明人： E·N·盖乐泽 ,  C·埃登斯 ,  B·杰弗里科克尔 ,  S·科瓦奇 ,  C·弗莱

    IPC分类号： B01L3/02 ,  B01F31/20 ,  B01F101/23

    摘要： 本发明涉及操作测定系统以分析一批测定板的方法，包括：该批中的每一板经历一系列具有时间长度N的不同处理循环；所述系列中的循环中的至少一个是分成具有长度A的培养前子循环和具有长度B的培养后子循环的交错循环，其中A+B＝N，并且对于给定板，具有长度A的子循环的完成与具有长度B的子循环的开始隔开了培养时间，培养时间是时间N的多倍数；对该批的板进行交错循环；重复上述步骤，直到该批中的所有板已经历培养前子循环和培养后子循环。本发明还涉及操作包括多个测定板的ECL免疫测定系统的方法、用于操作ECL免疫测定系统的方法、ECL免疫测定系统、用于清洁至少一个移液管吸头的设备和用于清洗移液管吸头的方法。

    操作测定系统的方法及ECL免疫测定系统
    2.
    发明授权
    操作测定系统的方法及ECL免疫测定系统 有权

    公开(公告)号：CN113413938B

    公开(公告)日：2023-07-28

    申请号：CN202110711881.8

    申请日：2016-04-06

    申请人： 中尺度技术有限责任公司

    发明人： E·N·盖乐泽 ,  C·埃登斯 ,  B·杰弗里-科克尔 ,  S·科瓦奇 ,  C·弗莱

    IPC分类号： B01L3/02 ,  B01F31/20

    摘要： 本发明涉及操作测定系统以分析一批测定板的方法，包括：该批中的每一板经历一系列具有时间长度N的不同处理循环；对于该批中的给定板，系列中的不同处理循环隔开至少时间Y的培养时段；对该批中的所述板按顺序地进行所述系列中的不同处理循环中的每一个；并且该批中的板的数目小于或等于Y/N。本发明还涉及操作测定系统以分析测定板的序列的方法、操作包括多个测定板的ECL免疫测定系统的方法、用于操作ECL免疫测定系统的方法、ECL免疫测定系统、用于清洁至少一个移液管吸头的设备和用于清洗移液管吸头的方法。

    操作测定系统的方法及ECL免疫测定系统
    4.
    发明公开
    操作测定系统的方法及ECL免疫测定系统 审中-实审

    公开(公告)号：CN113413938A

    公开(公告)日：2021-09-21

    申请号：CN202110711881.8

    申请日：2016-04-06

    申请人： 中尺度技术有限责任公司

    发明人： E·N·盖乐泽 ,  C·埃登斯 ,  B·杰弗里-科克尔 ,  S·科瓦奇 ,  C·弗莱

    IPC分类号： B01L3/02 ,  B01F11/00

    摘要： 本发明涉及操作测定系统以分析一批测定板的方法，包括：该批中的每一板经历一系列具有时间长度N的不同处理循环；对于该批中的给定板，系列中的不同处理循环隔开至少时间Y的培养时段；对该批中的所述板按顺序地进行所述系列中的不同处理循环中的每一个；并且该批中的板的数目小于或等于Y/N。本发明还涉及操作测定系统以分析测定板的序列的方法、操作包括多个测定板的ECL免疫测定系统的方法、用于操作ECL免疫测定系统的方法、ECL免疫测定系统、用于清洁至少一个移液管吸头的设备和用于清洗移液管吸头的方法。