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发明公开
一种智能测试系统审中-实审

公开(公告)号：CN119473908A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202411720166.0

申请日：2024-11-28

Applicant: 中核控制系统工程有限公司

Inventor： 淮小利 , 张源 , 李朝历 , 陈双成 , 王微 , 廖一波 , 甄向彻 , 赵爽

IPC: G06F11/3668

Abstract: 本申请公开了一种智能测试系统，涉及自动化测试技术领域，该系统包括：上位机、智能I/O模块以及与智能I/O模块配套的转接底座；上位机通过用例管理模块对测试用例进行导入、存储和执行处理，并生成测试指令；根据通信配置模块设置的通信方式和通信协议将测试指令下发至智能I/O模块生成测试激励信号；智能I/O模块将测试激励信号传递至待测系统生成测试反馈信号并通过智能I/O模块将测试反馈信号传递至上位机；上位机根据测试反馈信号生成测试结果。本申请智能测试系统可兼容多种通信方式进行智能测试并具备轻量化部署能力，能够有效降低系统测试成本与体积。

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