一种低幅构造校正方法、装置、计算机设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113009577B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202110309456.6

    申请日:2021-03-23

    Abstract: 本发明实施例公开了一种低幅构造校正方法、装置、计算机设备及存储介质。该方法包括:获取低幅构造的上覆发育薄层高速异常体层段的真实地层岩性组合;基于真实地层岩性组合,通过岩性替换得到高速异常体层段的厚度渐变的岩性组合模型;基于岩性组合模型进行地震正演,得到均方根振幅与高速异常体厚度之间的定量关系;提取高速异常体层段的均方根振幅平面图,并根据均方根振幅平面图和定量关系确定高速异常体层段的平面厚度图;根据平面厚度图确定平面时间误差网格图;根据平面时间误差网格图对低幅构造进行校正。本发明实施例所提供的技术方案,实现了高效精确的对低幅构造进行校正,从而降低了上覆发育薄层高速异常岩性体对低幅构造的影响。

    一种低幅构造校正方法、装置、计算机设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113009577A

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202110309456.6

    申请日:2021-03-23

    Abstract: 本发明实施例公开了一种低幅构造校正方法、装置、计算机设备及存储介质。该方法包括:获取低幅构造的上覆发育薄层高速异常体层段的真实地层岩性组合;基于真实地层岩性组合,通过岩性替换得到高速异常体层段的厚度渐变的岩性组合模型;基于岩性组合模型进行地震正演,得到均方根振幅与高速异常体厚度之间的定量关系;提取高速异常体层段的均方根振幅平面图,并根据均方根振幅平面图和定量关系确定高速异常体层段的平面厚度图;根据平面厚度图确定平面时间误差网格图;根据平面时间误差网格图对低幅构造进行校正。本发明实施例所提供的技术方案,实现了高效精确的对低幅构造进行校正,从而降低了上覆发育薄层高速异常岩性体对低幅构造的影响。

    地层品质因子的确定方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116879951A

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202310858812.9

    申请日:2023-07-13

    Abstract: 本发明实施例公开了一种地层品质因子的确定方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:向目标地层激发地震波,确定参考子波、相对应的接收子波和目标频带;基于参考子波的振幅谱和接收子波的振幅谱确定出谱比对数和频率值,并基于多个谱比对数确定谱比对数平均差以及基于多个频率值确定频率平均差;基于谱比对数平均差和频率平均差确定目标地层的品质因子,其中,品质因子表示地震波在目标地层中吸收衰减的程度。本发明实施例的技术方案解决了当前对品质因子的确定方法容易受到噪声影响,导致品质因子的值不准确的问题,降低了噪声干扰,提高品质因子的准确度。

    地层吸收衰减参数的估计方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116609825A

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202310572264.3

    申请日:2023-05-19

    Abstract: 本发明公开了一种地层吸收衰减参数的估计方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:依据衰减前后地震波振幅谱确定不同频率下的第一谱比对数;对第一谱比对数进行数据清理,得到第二谱比对数;其中,数据清理包括异常值剔除操作;依据第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数。采用本申请技术方案,通过对第一谱比对数进行数据清理,得到第二谱比对数,使得由于噪声等因素而造成的异常谱比对数能够被清除,从而降低噪声等因素的影响,从而降低系统的运算误差。通过第二谱比对数加权线性拟合确定地层吸收衰减参数,使得地层吸收衰减参数的确定过程更稳定,确定结果更准确。

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