固件测试方法及装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN118132453B

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410573845.3

    申请日:2024-05-10

    IPC分类号: G06F11/36 G06F21/57 G06F18/23

    摘要: 本申请涉及计算机技术领域,提供一种固件测试方法及装置。所述方法包括:对多个种子文件中的消息片段进行聚类,生成多个目标聚类簇;所述多个目标聚类簇与待测固件的多种潜在漏洞类型一一对应;根据最优变异策略对所述多个目标聚类簇中的消息片段进行变异,生成多个测试用例集;所述多个测试用例集与所述多个目标聚类簇一一对应;利用所述多个测试用例集对所述待测固件进行测试。本申请提供的固件测试方法及装置可以有效提高测试用例对待测固件的潜在漏洞的针对性,减少无针对性的测试用例的数量,利用这些测试用例对待测固件进行测试时,能极大地提高测试效率。

    固件测试方法及装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118132453A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410573845.3

    申请日:2024-05-10

    IPC分类号: G06F11/36 G06F21/57 G06F18/23

    摘要: 本申请涉及计算机技术领域,提供一种固件测试方法及装置。所述方法包括:对多个种子文件中的消息片段进行聚类,生成多个目标聚类簇;所述多个目标聚类簇与待测固件的多种潜在漏洞类型一一对应;根据最优变异策略对所述多个目标聚类簇中的消息片段进行变异,生成多个测试用例集;所述多个测试用例集与所述多个目标聚类簇一一对应;利用所述多个测试用例集对所述待测固件进行测试。本申请提供的固件测试方法及装置可以有效提高测试用例对待测固件的潜在漏洞的针对性,减少无针对性的测试用例的数量,利用这些测试用例对待测固件进行测试时,能极大地提高测试效率。