校验方法及装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109856590B

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN201811500811.2

    申请日:2018-12-10

    IPC分类号: G01S1/02

    摘要: 本发明提供了一种校验方法及装置,涉及行波测距装置校验的技术领域,通过获取标准数据,根据标准数据生成第一模拟信号;若接收到触发信号,触发第一行波测距装置向第二行波测距装置发送第一模拟信号,并记录当前时刻为第一时刻;接收第一行波测距装置返回的第二时刻,第二时刻为第一行波测距装置接收到第二行波测距装置发送的第二模拟信号的时刻,第二模拟信号是由触发信号触发生成;根据第一时刻和第二时刻,得到测试数据;根据测试数据及标准数据,生成判定结果,达到校验第二行波测距装置的目的,并且可以通过在第二行波测距装置同时执行上述工作步骤校验第一行波测距装置,达到双端校验的技术效果,节约大量人力物力。

    校验方法及装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109856590A

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201811500811.2

    申请日:2018-12-10

    IPC分类号: G01S1/02

    摘要: 本发明提供了一种校验方法及装置,涉及行波测距装置校验的技术领域,通过获取标准数据,根据标准数据生成第一模拟信号;若接收到触发信号,触发第一行波测距装置向第二行波测距装置发送第一模拟信号,并记录当前时刻为第一时刻;接收第一行波测距装置返回的第二时刻,第二时刻为第一行波测距装置接收到第二行波测距装置发送的第二模拟信号的时刻,第二模拟信号是由触发信号触发生成;根据第一时刻和第二时刻,得到测试数据;根据测试数据及标准数据,生成判定结果,达到校验第二行波测距装置的目的,并且可以通过在第二行波测距装置同时执行上述工作步骤校验第一行波测距装置,达到双端校验的技术效果,节约大量人力物力。