公开(公告)号：CN101655614B

公开(公告)日：2011-04-13

申请号：CN200810117992.0

申请日：2008-08-19

申请人： 京东方科技集团股份有限公司

发明人： 唐剑 ,  王大巍 ,  李新国 ,  梁珂 ,  董友梅

IPC分类号： G02F1/13 ,  G06T7/00

摘要： 本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置，其中检测方法包括：步骤1、采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；步骤2、根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像；步骤3、将所述样本图像和背景图像进行比较，获取云纹缺陷图像。液晶显示面板云纹缺陷的检测装置包括样本图像采集模块、背景图像拟合模块、缺陷图像获取模块。本发明提供的液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置能够提高液晶显示面板云纹缺陷检测的效率和准确率，能够获得理想的云纹缺陷图像。

公开(公告)号：CN101655614A

公开(公告)日：2010-02-24

申请号：CN200810117992.0

申请日：2008-08-19

申请人： 京东方科技集团股份有限公司

发明人： 唐剑 ,  王大巍 ,  李新国 ,  梁珂 ,  董友梅

IPC分类号： G02F1/13 ,  G06T7/00

摘要： 本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置，其中检测方法包括：步骤1.采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；步骤2.根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像；步骤3.将所述样本图像和背景图像进行比较，获取云纹缺陷图像。液晶显示面板云纹缺陷的检测装置包括样本图像采集模块、背景图像拟合模块、缺陷图像获取模块。本发明提供的液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置能够提高液晶显示面板云纹缺陷检测的效率和准确率，能够获得理想的云纹缺陷图像。