公开(公告)号：CN106546778B

公开(公告)日：2019-08-02

申请号：CN201610987328.6

申请日：2016-11-09

申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  北京京东方光电科技有限公司

发明人： 刘少宁 ,  胡国锋 ,  刘国强 ,  林伟东 ,  许晓文 ,  焦云翔 ,  张明达 ,  刘阳 ,  王峰 ,  曹伟华 ,  胡亮亮 ,  李艳涛 ,  刘大海 ,  马健 ,  王世杰 ,  吴壮壮 ,  邢振国 ,  于洋 ,  张兴 ,  其他发明人请求不公开姓名

IPC分类号： G01R1/04

CPC分类号： H01R13/6315 ,  H01F7/02 ,  H01F7/0247 ,  H01R13/62933 ,  H01R2201/20

摘要： 本发明提供了一种压接治具及电子产品检测设备，涉及电子产品检测技术领域，用于解决现有的对产品进行检测的方法无法既保证检测顺利进行，又保证不会对连接器造成损坏的技术问题。其中压接治具包括：连接器软接触构件，包括第一基板，安装于第一基板上的浮动板，安装于第一基板与浮动板之间的缓冲件，缓冲件在受到压力时产生与压力方向相反的排斥力；与连接器软接触构件可开合连接的压接构件，包括第二基板及安装于第二基板上的连接器顶块，连接器顶块上安装有设备端连接器，连接器顶块的位置与浮动板的位置在连接器软接触构件和压接构件扣合时正对。上述压接治具应用于在对产品检测时使产品端连接器与设备端连接器电连接。

公开(公告)号：CN106546778A

公开(公告)日：2017-03-29

申请号：CN201610987328.6

申请日：2016-11-09

申请人： 京东方科技集团股份有限公司

发明人： 刘少宁 ,  胡国锋 ,  刘国强 ,  林伟东 ,  许晓文 ,  焦云翔 ,  张明达 ,  刘阳 ,  王峰 ,  曹伟华 ,  胡亮亮 ,  李艳涛 ,  刘大海 ,  马健 ,  王世杰 ,  吴壮壮 ,  邢振国 ,  于洋 ,  张兴 ,  其他发明人请求不公开姓名

IPC分类号： G01R1/04

CPC分类号： H01R13/6315 ,  H01F7/02 ,  H01F7/0247 ,  H01R13/62933 ,  H01R2201/20 ,  G01R1/0416

摘要： 本发明提供了一种压接治具及电子产品检测设备，涉及电子产品检测技术领域，用于解决现有的对产品进行检测的方法无法既保证检测顺利进行，又保证不会对连接器造成损坏的技术问题。其中压接治具包括：连接器软接触构件，包括第一基板，安装于第一基板上的浮动板，安装于第一基板与浮动板之间的缓冲件，缓冲件在受到压力时产生与压力方向相反的排斥力；与连接器软接触构件可开合连接的压接构件，包括第二基板及安装于第二基板上的连接器顶块，连接器顶块上安装有设备端连接器，连接器顶块的位置与浮动板的位置在连接器软接触构件和压接构件扣合时正对。上述压接治具应用于在对产品检测时使产品端连接器与设备端连接器电连接。