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公开(公告)号：CN109036236B
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN201811076861.2
申请日：2018-09-14
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明提供一种阵列基板检测方法及检测装置，涉及显示技术领域，用于改善现有技术中对阵列基板上的信号线进行良率测试的过程耗费时间长的问题。阵列基板检测方法，包括：向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；其中，每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，所述数据线上传输的电信号进行一次累计；获取每根所述数据线上的所述采集信号；根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。
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公开(公告)号：CN115526866A
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN202211214988.2
申请日：2022-09-30
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06T5/00 , G06V10/44 , G06V10/74 , G06V10/764 , G06V10/774
摘要： 本申请提供一种图像处理方法、装置、计算机设备、存储介质及程序产品，涉及机器视觉技术领域。图像处理方法包括：获取待检测图像，并获取待检测图像的图像信息；基于预设的初始噪点模型以及图像信息生成至少一个参考噪点模型；将待检测图像分别输入至少一个参考噪点模型中，得到至少一个参考噪点图像，并生成每一参考噪点图像对应的参考清晰图像；基于至少一个参考清晰图像确定目标清晰图像，并基于目标清晰图像进行缺陷检测，得到待检测图像中的缺陷特征。可以提高缺陷检测的准确性。
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公开(公告)号：CN111445834A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010397637.4
申请日：2020-05-12
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明提供一种显示基板、显示面板和显示面板的测试方法，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的显示基板部分不良不容易检出的问题。本发明实施例的显示基板包括：多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。
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公开(公告)号：CN116363049A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202211408285.3
申请日：2022-11-10
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本申请提供一种图像处理方法、装置、计算机设备、存储介质及程序产品，涉及机器视觉技术领域。图像处理方法包括：获取待检测产品的待检测图像，根据所述待检测产品的产品参数，将所述待检测图像划分至少一个待检测区域；针对每一个待检测区域，对所述待检测区域进行超像素分割，得到对应的第一分割图像；确定与所述待检测区域对应的检测框和检测参数，基于检测参数在所述第一分割图像中移动对应的检测框，直至检测到缺陷特征，获取所述缺陷特征的缺陷图像。本申请的图像处理方法可以有效提高缺陷检测的准确度。
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公开(公告)号：CN111445834B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202010397637.4
申请日：2020-05-12
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明提供一种显示基板、显示面板和显示面板的测试方法，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的显示基板部分不良不容易检出的问题。本发明实施例的显示基板包括：多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。
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公开(公告)号：CN109036236A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201811076861.2
申请日：2018-09-14
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G09G3/00
CPC分类号： G09G3/006
摘要： 本发明提供一种阵列基板检测方法及检测装置，涉及显示技术领域，用于改善现有技术中对阵列基板上的信号线进行良率测试的过程耗费时间长的问题。阵列基板检测方法，包括：向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；其中，每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，所述数据线上传输的电信号进行一次累计；获取每根所述数据线上的所述采集信号；根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。
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