显示模组的测试电路及测试方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117437861A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311474013.8

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 本公开实施例提供了一种显示模组的测试电路及测试方法,属于显示技术领域。该测试电路包括测试开关电路。该测试开关电路可以与开关控制端、测试端和显示模组中多种不同颜色的像素耦接,并可以用于在开关控制端的控制下,控制测试端与像素的通断,且在同一时段,可以控制测试端与一种目标颜色的像素导通,且测试端提供的测试信号可以用于点亮像素。如此,可以通过检测显示模组在显示该目标颜色的画面时是否还出现其他颜色的图案来测试不同颜色的像素之间是否发生短路,测试灵活性较好。

    一种像素电路、阵列基板及显示装置

    公开(公告)号:CN117765885A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202410076815.1

    申请日:2024-01-18

    IPC分类号: G09G3/3233

    摘要: 本申请实施例提供了一种像素电路、阵列基板及显示装置,存储子电路的第一端连接第一电源电压,存储子电路的第二端分别与初始化子电路和驱动子电路的控制端连接,驱动子电路第一端通过第一扫描控制子电路与第一电源电压连接,驱动子电路的第二端分别与电压控制子电路和发光元件的阳极连接,发光元件的阴极连接第二电源电压,初始化子电路用于在复位阶段,对驱动子电路的控制端的电压进行初始化,电压控制子电路用于在对像素电路的老化工艺时,拉低驱动子电路的第二端的电压为第一电压,可以实现对像素电路的晶体管的老化工艺效果,还可以避免晶体管的击穿或灼伤。

    显示模组及显示装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118301988A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410452551.5

    申请日:2024-04-15

    IPC分类号: H10K59/131 H10K71/70

    摘要: 本公开的实施例提供一种显示模组及显示装置,涉及显示技术领域,用于提高显示模组的产品良率。该显示模组包括:刚性基板;柔性基底,包括主体部和延伸部,主体部层叠设置于刚性基板上,延伸部连接于主体部的一侧,且延伸部相比刚性基板向远离刚性基板的方向延伸;第一引脚,设于延伸部远离刚性基板的一侧;其中,延伸部能够弯折至刚性基板远离主体部的一侧,以使第一引脚位于刚性基板远离主体部的一侧。上述显示模组用于显示图像。