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公开(公告)号:CN116794866A
公开(公告)日:2023-09-22
申请号:CN202310792775.6
申请日:2023-06-29
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 武汉京东方光电科技有限公司
IPC分类号: G02F1/13 , G02F1/1345 , G02F1/1343 , G02F1/1362
摘要: 本公开提供了一种显示面板、显示装置及母板,涉及显示技术领域。显示面板,包括衬底以及设置在所述衬底上的冗余像素和子像素,所述冗余像素包括测试晶体管和电容,所述测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极,所述电容包括第一极板和第二极板,所述测试晶体管的第二极与所述第一极板电连接;所述显示面板还包括第一触点和第二触点,所述第一触点与所述测试晶体管的第一极电连接,所述第二触点与测试晶体管的所述控制极电连接,所述第一触点、所述第二触点以及所述第二极板用于与测试设备电连接,以测试所述测试晶体管的特性。可以更准确地推断液晶显示面板内晶体管的特性。
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公开(公告)号:CN116794866B
公开(公告)日:2024-05-10
申请号:CN202310792775.6
申请日:2023-06-29
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 武汉京东方光电科技有限公司
IPC分类号: G02F1/13 , G02F1/1345 , G02F1/1343 , G02F1/1362
摘要: 本公开提供了一种显示面板、显示装置及母板,涉及显示技术领域。显示面板,包括衬底以及设置在所述衬底上的冗余像素和子像素,所述冗余像素包括测试晶体管和电容,所述测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极,所述电容包括第一极板和第二极板,所述测试晶体管的第二极与所述第一极板电连接;所述显示面板还包括第一触点和第二触点,所述第一触点与所述测试晶体管的第一极电连接,所述第二触点与测试晶体管的所述控制极电连接,所述第一触点、所述第二触点以及所述第二极板用于与测试设备电连接,以测试所述测试晶体管的特性。可以更准确地推断液晶显示面板内晶体管的特性。
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公开(公告)号:CN113899959B
公开(公告)日:2024-08-02
申请号:CN202111362129.3
申请日:2021-11-17
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
摘要: 本发明提供一种检测装置及其检测方法,涉及检测技术领域,为解决在将显示基板从检测装置上取下时,容易产生静电不良的问题。所述检测装置包括:机台和多个支撑针;支撑针能够在支撑状态和非支撑状态之间切换;在支撑状态下,所述支撑针伸出所述机台撑起待测基板,在非支撑状态下,所述支撑针与所述待测基板分离;所述支撑针包括:支撑臂和放电结构;所述支撑臂限定出第一腔室;所述支撑臂上设置有进气口和出气口,所述进气口和所述出气口均与所述第一腔室连通,在所述支撑状态下能够控制所述出气口的高度高于所述机台的表面的高度;所述放电结构的至少部分位于所述第一腔室内,所述放电结构包括放电部,所述放电部的放电端从所述出气口伸出。
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公开(公告)号:CN113899959A
公开(公告)日:2022-01-07
申请号:CN202111362129.3
申请日:2021-11-17
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
摘要: 本发明提供一种检测装置及其检测方法,涉及检测技术领域,为解决在将显示基板从检测装置上取下时,容易产生静电不良的问题。所述检测装置包括:机台和多个支撑针;支撑针能够在支撑状态和非支撑状态之间切换;在支撑状态下,所述支撑针伸出所述机台撑起待测基板,在非支撑状态下,所述支撑针与所述待测基板分离;所述支撑针包括:支撑臂和放电结构;所述支撑臂限定出第一腔室;所述支撑臂上设置有进气口和出气口,所述进气口和所述出气口均与所述第一腔室连通,在所述支撑状态下能够控制所述出气口的高度高于所述机台的表面的高度;所述放电结构的至少部分位于所述第一腔室内,所述放电结构包括放电部,所述放电部的放电端从所述出气口伸出。
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公开(公告)号:CN209014625U
公开(公告)日:2019-06-21
申请号:CN201821436990.3
申请日:2018-09-03
申请人: 北京京东方显示技术有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC分类号: G01R1/073
摘要: 本申请公开了一种自适应调节探针,包括壳体,所述壳体内设置有可沿所述壳体上下移动的探针,所述探针可部分伸出所述壳体,所述探针未伸出所述壳体的一端连接有弹簧,所述弹簧另一端连接至限位滑块,所述壳体部分内壁为阻尼内壁,所述限位滑块沿所述阻尼内壁上下滑动。根据本申请实施例提供的技术方案,通过将壳体内壁设置成部分阻尼内壁,同时增加限位滑块沿该阻尼内壁滑动,探针可在壳体内继续移动使得该探针能够覆盖新的高度,且在探针抬起的时候探针整体长度缩短,保证在与基板接触时探针部分始终位于弹簧自由压缩的范围内,保证探针与基板的压力在可控范围内,不会出现砸伤基板的问题。
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