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公开(公告)号：CN113436562B
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202110706625.X
申请日：2021-06-24
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本申请公开一种显示面板、测试方法及显示装置，涉及显示技术领域，能够改善现有的显示面板的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高的问题。显示面板包括：至少两个待测电路；测试引脚，所述测试引脚与至少两个所述待测电路电连接；切换组件，所述切换组件用于控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。
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公开(公告)号：CN108932922B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201810717651.0
申请日：2018-07-03
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
Abstract: 本发明公开一种修复能力测试装置及方法，涉及显示技术领域，以提高柔性背板所包括的膜层的修复成功率，从而降低柔性背板所包括的膜层的修复难度。所述该修复能力持装置包括：电学特性测试器和仿真基板；仿真基板包括层叠在一起的第一模拟膜层和第二模拟膜层，第一模拟膜层具有缺陷。所述修复能力测试方法应用上述技术方案所提的修复能力测试装置。本发明提供的修复能力测试装置及方法用于修复膜层中。
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公开(公告)号：CN108735136A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810607251.4
申请日：2018-06-13
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种显示基板、测试电路和测试方法，其中测试方法包括：将调节电路的第一节点与第一信号提供单元的输出端连接；将N组待测元件的输出端所连接的第二节点与所述第一信号提供单元的输入端连接；开启所述第一信号提供单元，获取所述N组待测元件的总电源特性取值；根据所述总电源特性取值和所述N组待测元件所包含的待测元件的总数，计算平均电源特性取值，所述平均电源特性取值即为所述N组待测元件中的每个待测元件的电源特性取值。这样，针对N组待测元件同时测量，可以有效分担测量误差，且增设的调节电路能够对测试电路进行平衡和补偿调节，即可有效提高待测元件的电源特性的测量精度。
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公开(公告)号：CN113436562A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202110706625.X
申请日：2021-06-24
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本申请公开一种显示面板、测试方法及显示装置，涉及显示技术领域，能够改善现有的显示面板的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高的问题。显示面板包括：至少两个待测电路；测试引脚，所述测试引脚与至少两个所述待测电路电连接；切换组件，所述切换组件用于控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。
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公开(公告)号：CN108735136B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN201810607251.4
申请日：2018-06-13
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种显示基板、测试电路和测试方法，其中测试方法包括：将调节电路的第一节点与第一信号提供单元的输出端连接；将N组待测元件的输出端所连接的第二节点与所述第一信号提供单元的输入端连接；开启所述第一信号提供单元，获取所述N组待测元件的总电源特性取值；根据所述总电源特性取值和所述N组待测元件所包含的待测元件的总数，计算平均电源特性取值，所述平均电源特性取值即为所述N组待测元件中的每个待测元件的电源特性取值。这样，针对N组待测元件同时测量，可以有效分担测量误差，且增设的调节电路能够对测试电路进行平衡和补偿调节，即可有效提高待测元件的电源特性的测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109116198B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201810995027.7
申请日：2018-08-29
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G01R31/12
Abstract: 本发明提供了一种击穿测试结构、显示面板和击穿测试方法。所述结构包括：基底；有源层，所述有源层设置在所述基底上；栅绝缘层，所述栅绝缘层设置在所述有源层上，所述栅绝缘层与所述有源层边沿对应的区域为爬坡区，位于所述爬坡区内部的区域为平面区；栅极层，所述栅极层设置在所述栅绝缘层上，包括相接的第一栅部和第二栅部，所述第一栅部覆盖所述平面区，所述第二栅部覆盖所述爬坡区，所述第一栅部和/或第二栅部为镂空图案以露出所述栅绝缘层。通过本发明实施例，在测试栅绝缘层的击穿电压时，可以根据击穿位置确定平面区和爬坡区哪一个被击穿，以及哪一个先被击穿，并且可以根据击穿现象准确得知栅绝缘层的膜层状况。
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公开(公告)号：CN109116198A
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201810995027.7
申请日：2018-08-29
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G01R31/12
Abstract: 本发明提供了一种击穿测试结构、显示面板和击穿测试方法。所述结构包括：基底；有源层，所述有源层设置在所述基底上；栅绝缘层，所述栅绝缘层设置在所述有源层上，所述栅绝缘层与所述有源层边沿对应的区域为爬坡区，位于所述爬坡区内部的区域为平面区；栅极层，所述栅极层设置在所述栅绝缘层上，包括相接的第一栅部和第二栅部，所述第一栅部覆盖所述平面区，所述第二栅部覆盖所述爬坡区，所述第一栅部和/或第二栅部为镂空图案以露出所述栅绝缘层。通过本发明实施例，在测试栅绝缘层的击穿电压时，可以根据击穿位置确定平面区和爬坡区哪一个被击穿，以及哪一个先被击穿，并且可以根据击穿现象准确得知栅绝缘层的膜层状况。
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公开(公告)号：CN108932922A
公开(公告)日：2018-12-04
申请号：CN201810717651.0
申请日：2018-07-03
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
Abstract: 本发明公开一种修复能力测试装置及方法，涉及显示技术领域，以提高柔性背板所包括的膜层的修复成功率，从而降低柔性背板所包括的膜层的修复难度。所述该修复能力持装置包括：电学特性测试器和仿真基板；仿真基板包括层叠在一起的第一模拟膜层和第二模拟膜层，第一模拟膜层具有缺陷。所述修复能力测试方法应用上述技术方案所提的修复能力测试装置。本发明提供的修复能力测试装置及方法用于修复膜层中。
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公开(公告)号：CN108594553A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810432820.6
申请日：2018-05-08
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC: G02F1/1362 , G02F1/1368
Abstract: 本发明公开了一种阵列基板、其修复方法及显示装置，当像素单元中的开关薄膜晶体管出现缺陷时，本发明实施例通过在像素单元中设置修复薄膜晶体管可以有效地对该像素单元进行修复，以代替出现缺陷的开关薄膜晶体管进行工作，因此，修复薄膜晶体管可以修复不良，从而可以避免对像素单元做暗点化处理，进而改善画面显示效果，有利于实现高分辨率的显示面板。
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公开(公告)号：CN108717939B
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN201810558243.5
申请日：2018-06-01
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
Abstract: 一种静电释放保护电路、阵列基板和显示装置。该静电释放保护电路包括多个第一静电释放单元，各第一静电释放单元包括设置在衬底基板上的第一有源层、第一绝缘层、第一金属层、第二绝缘层以及第二金属层，第一有源层包括多个第一连接端子，第一金属层包括多个第一导电端子，第二金属层包括多个第二导电端子，第一金属层和第二金属层在衬底基板上的正投影分别与第一有源层在衬底基板上的正投影至少部分重叠，第一导电端子和第二导电端子分别与不同的第一连接端子电性相连。该静电释放保护电路可快速地进行静电释放和中和，并且还具有可主动和被动地进行静电释放、对等双向流通、可适应各种规模的静电释放的优点。
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