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公开(公告)号:CN113934028B
公开(公告)日:2023-11-03
申请号:CN202111230115.6
申请日:2021-10-21
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号: G02F1/13
摘要: 本申请公开了一种显示面板对位检测治具及对位检测方法,对位检测治具包括,底座,所述底座上设置有用于固定显示面板的安装区;点灯模块,所述点灯模块与所述显示面板电连接,用于点亮所述显示面板;操作台,所述操作台设置在所述底座上,所述操作台上设置有按压模块和亮度采集模块,其中,所述按压模块用于对所述显示面板沿第一方向进行施压;所述亮度采集模块用于采集所述显示面板的亮度信息,通过按压模块的按压会加重错位偏移,显示亮度呈现较大程度的变化,通过亮度采集模块对显示面板的亮度进行采集,通过对比亮度变化程度的大小,判断显示面板的彩膜基板和阵列基板之间的对位情况,能够减少漏检的情况,提高产品合格率。
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公开(公告)号:CN114038379A
公开(公告)日:2022-02-11
申请号:CN202111430478.4
申请日:2021-11-29
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号: G09G3/20
摘要: 本发明实施例提供了子像素开启顺序确定及子像素开启方法、像素驱动电路,子像素开启顺序确定方法包括:针对待测试显示面板的指定像素行中的子像素,获取因该子像素在当前充电时间中的充电电压而导致同行的其他子像素在下一充电时间中所产生的矢量耦合电压;获取各预设子像素开启顺序;针对每一种预设子像素开启顺序,按照该预设子像素开启顺序中各子像素的开启顺序及所述矢量耦合电压,计算该预设子像素开启顺序下指定像素行中像素的水平串扰值;根据各预设子像素开启顺序下像素的水平串扰值,选取目标子像素开启顺序。通过计算出的水平串扰值,可以评估水平串扰的影响程度,通过选取目标子像素开启顺序能有效的改善高刷新率引起的水平串扰。
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公开(公告)号:CN113934028A
公开(公告)日:2022-01-14
申请号:CN202111230115.6
申请日:2021-10-21
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号: G02F1/13
摘要: 本申请公开了一种显示面板对位检测治具及对位检测方法,对位检测治具包括,底座,所述底座上设置有用于固定显示面板的安装区;点灯模块,所述点灯模块与所述显示面板电连接,用于点亮所述显示面板;操作台,所述操作台设置在所述底座上,所述操作台上设置有按压模块和亮度采集模块,其中,所述按压模块用于对所述显示面板沿第一方向进行施压;所述亮度采集模块用于采集所述显示面板的亮度信息,通过按压模块的按压会加重错位偏移,显示亮度呈现较大程度的变化,通过亮度采集模块对显示面板的亮度进行采集,通过对比亮度变化程度的大小,判断显示面板的彩膜基板和阵列基板之间的对位情况,能够减少漏检的情况,提高产品合格率。
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公开(公告)号:CN114038379B
公开(公告)日:2023-12-26
申请号:CN202111430478.4
申请日:2021-11-29
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号: G09G3/20
摘要: 本发明实施例提供了子像素开启顺序确定及子像素开启方法、像素驱动电路,子像素开启顺序确定方法包括:针对待测试显示面板的指定像素行中的子像素,获取因该子像素在当前充电时间中的充电电压而导致同行的其他子像素在下一充电时间中所产生的矢量耦合电压;获取各预设子像素开启顺序;针对每一种预设子像素开启顺序,按照该预设子像素开启顺序中各子像素的开启顺序及所述矢量耦合电压,计算该预设子像素开启顺序下指定像素行中像素的水平串扰值;根据各预设子像素开启顺序下像素的水平串扰值,选取目标子像素开启顺序。通过计算出的水平串扰值,可以评估水平串扰的影响程度,通过选取目标子像素开启顺序能有效的改善高刷新率引起的水平串扰。
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公开(公告)号:CN116434684A
公开(公告)日:2023-07-14
申请号:CN202310464880.7
申请日:2023-04-26
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号: G09G3/00
摘要: 本公开实施例提供的检测方法及其检测装置,用于检测显示面板是否存在短路问题,显示面板包括交叉设置的多条栅线和多条传输线;检测方法包括:控制多条栅线加载第一电平信号,控制多条传输线加载第二电平信号,使显示面板显示黑画面;第一电平信号的电压值和第二电平信号的电压值的差值大于0V;判断显示面板显示的黑画面中是否存在发亮区域;若是,则判断显示面板存在短路问题;若否,则判断显示面板不存在短路问题。
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公开(公告)号:CN116229855A
公开(公告)日:2023-06-06
申请号:CN202310149485.X
申请日:2023-02-22
申请人: 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 , 京东方科技集团股份有限公司
摘要: 本发明公开了一种显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质,在点灯测试时,通过将输入到显示面板内扫描信号线上的扫描信号的脉冲宽度设置成与正常测试时的标准脉冲宽度不同,例如可以大于正常测试时的标准脉冲宽度,也可以小于正常测试时的标准脉冲宽度,这样可以放大具有显示不良(横纹、发暗)的显示面板的不良程度,例如原本无法识别的缺陷被放大从而能够被检测出来。因此,本发明实施例不仅可以对不良现象较为明显的显示面板进行拦截,还可以对存在微小显示不良的显示面板进行拦截,使其不进行后续工艺,避免造成浪费资源,可以提高显示面板的良率。
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