子像素开启顺序确定及子像素开启方法、像素驱动电路

    公开(公告)号:CN114038379A

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202111430478.4

    申请日:2021-11-29

    IPC分类号: G09G3/20

    摘要: 本发明实施例提供了子像素开启顺序确定及子像素开启方法、像素驱动电路,子像素开启顺序确定方法包括:针对待测试显示面板的指定像素行中的子像素,获取因该子像素在当前充电时间中的充电电压而导致同行的其他子像素在下一充电时间中所产生的矢量耦合电压;获取各预设子像素开启顺序;针对每一种预设子像素开启顺序,按照该预设子像素开启顺序中各子像素的开启顺序及所述矢量耦合电压,计算该预设子像素开启顺序下指定像素行中像素的水平串扰值;根据各预设子像素开启顺序下像素的水平串扰值,选取目标子像素开启顺序。通过计算出的水平串扰值,可以评估水平串扰的影响程度,通过选取目标子像素开启顺序能有效的改善高刷新率引起的水平串扰。

    子像素开启顺序确定及子像素开启方法、像素驱动电路

    公开(公告)号:CN114038379B

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202111430478.4

    申请日:2021-11-29

    IPC分类号: G09G3/20

    摘要: 本发明实施例提供了子像素开启顺序确定及子像素开启方法、像素驱动电路,子像素开启顺序确定方法包括:针对待测试显示面板的指定像素行中的子像素,获取因该子像素在当前充电时间中的充电电压而导致同行的其他子像素在下一充电时间中所产生的矢量耦合电压;获取各预设子像素开启顺序;针对每一种预设子像素开启顺序,按照该预设子像素开启顺序中各子像素的开启顺序及所述矢量耦合电压,计算该预设子像素开启顺序下指定像素行中像素的水平串扰值;根据各预设子像素开启顺序下像素的水平串扰值,选取目标子像素开启顺序。通过计算出的水平串扰值,可以评估水平串扰的影响程度,通过选取目标子像素开启顺序能有效的改善高刷新率引起的水平串扰。

    显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质

    公开(公告)号:CN116229855A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310149485.X

    申请日:2023-02-22

    IPC分类号: G09G3/00 G02F1/13

    摘要: 本发明公开了一种显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质,在点灯测试时,通过将输入到显示面板内扫描信号线上的扫描信号的脉冲宽度设置成与正常测试时的标准脉冲宽度不同,例如可以大于正常测试时的标准脉冲宽度,也可以小于正常测试时的标准脉冲宽度,这样可以放大具有显示不良(横纹、发暗)的显示面板的不良程度,例如原本无法识别的缺陷被放大从而能够被检测出来。因此,本发明实施例不仅可以对不良现象较为明显的显示面板进行拦截,还可以对存在微小显示不良的显示面板进行拦截,使其不进行后续工艺,避免造成浪费资源,可以提高显示面板的良率。