治具、显示面板及其制作方法、显示装置

    公开(公告)号:CN107591349B

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201711017479.X

    申请日:2017-10-26

    IPC分类号: H01L21/67

    摘要: 本发明涉及一种治具,用于在显示面板的至少一侧的侧边上形成加强层,所述治具包括:支架,用于承载至少一个显示面板;掩膜板,所述掩膜板上设置有能够暴露至少一个显示面板的侧边的至少一个镂空区域,且每个镂空区域的面积不大于相应的显示面板的侧边的面积;涂覆结构,与所述支架分别位于所述掩膜板的相对的两侧,用于至少在所述掩膜板的镂空区域涂覆用于形成所述加强层的加强材料。本发明还涉及一种显示面板及其制作方案、显示装置。本发明的有益效果是:相比现有技术中的点胶工艺,本发明治具可以使得加强材料完全覆盖显示面板的侧边,以在显示面板的侧边上形成加强层,提升产品良率,增强产品强度。

    治具、显示面板及其制作方法、显示装置

    公开(公告)号:CN107591349A

    公开(公告)日:2018-01-16

    申请号:CN201711017479.X

    申请日:2017-10-26

    IPC分类号: H01L21/67

    摘要: 本发明涉及一种治具,用于在显示面板的至少一侧的侧边上形成加强层,所述治具包括:支架,用于承载至少一个显示面板;掩膜板,所述掩膜板上设置有能够暴露至少一个显示面板的侧边的至少一个镂空区域,且每个镂空区域的面积不大于相应的显示面板的侧边的面积;涂覆结构,与所述支架分别位于所述掩膜板的相对的两侧,用于至少在所述掩膜板的镂空区域涂覆用于形成所述加强层的加强材料。本发明还涉及一种显示面板及其制作方案、显示装置。本发明的有益效果是:相比现有技术中的点胶工艺,本发明治具可以使得加强材料完全覆盖显示面板的侧边,以在显示面板的侧边上形成加强层,提升产品良率,增强产品强度。

    一种显示基板和显示面板

    公开(公告)号:CN106953028A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710358271.8

    申请日:2017-05-19

    IPC分类号: H01L51/52

    CPC分类号: H01L51/5246

    摘要: 本发明提供一种显示基板和显示面板。该显示基板包括对合设置的两块玻璃基板和设置于两块玻璃基板之间、用于将两块玻璃基板粘结在一起的封框胶,封框胶对应分布于玻璃基板的边框区域,封框胶对应覆盖切割显示基板边框的切割线。该显示基板通过使封框胶对应覆盖切割显示基板边框的切割线;能使整个切割线都落在封框胶上,从而避免了切割线局部落在封框胶涂布区域以外所导致的切割异常,同时还避免了切割线从封框胶涂布区域过渡到未涂布区域所导致的切割后显示基板的信赖性异常,进而使经过边框切割后的显示基板的信赖性和切割效果均满足要求,确保了显示基板经过边框切割后的品质。

    一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置

    公开(公告)号:CN105632383B

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201610016286.1

    申请日:2016-01-11

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 本发明公开了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置,每个信号输入端可以分时输入多种信号,进而通过对应的开关控制形成多条输入信号线路,多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同,例如,其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线,另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理,这样通过控制信号端控制相应的开关,使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板,以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求,相对于现有技术测试信号的输入可以不经过移位寄存器单元,避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏,保证了显示面板的正常显示功能。

    一种探针
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205317828U

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201620039024.2

    申请日:2016-01-13

    IPC分类号: G01R1/067

    摘要: 本实用新型涉及电子技术领域,特别涉及一种探针,用以解决现有技术测试焊盘有效性的探针绝缘性较差,导致容易误判,并且只能测试体积较大焊盘的缺陷。本实用新型的探针包括具有弹性的导电材料制成的探针主体和辅助探针,所述探针主体和所述辅助探针由绝缘夹层隔开。由于本实用新型实施例的探针中的探针主体和辅助探针由绝缘夹层隔开,因此既可以保证探针主体和辅助探针之间的绝缘性,又可以适当的减小探针主体和辅助探针之间的距离,用于测试较小尺寸的焊盘。