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公开(公告)号：CN114787902A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202080002198.0
申请日：2020-09-29
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方智慧电子系统有限公司
IPC分类号： G09G3/20
摘要： 一种电子墨水屏的控制方法，包括：向电子墨水屏中待显示第一颜色的像素输入第一颜色驱动信号；其中，第一颜色驱动信号包括多个阶段的子信号，多个阶段的子信号包括处于相邻阶段的第一抖动信号和第一颜色第一上推信号，第一颜色第一上推信号处于与第一抖动信号相应的阶段的后一阶段；第一抖动信号包括：按先后顺序依次排列的第一矩形波，电场撤销信号和第一恒压信号，第一恒压信号被配置为驱动所述像素中的第一颜色带电粒子向靠近电子墨水屏的显示面的一侧运动；第一颜色第一上推信号被配置为驱动像素中的第一颜色带电粒子向靠近电子墨水屏的显示面的一侧运动。
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公开(公告)号：CN114945971A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202080002589.2
申请日：2020-10-29
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方智慧电子系统有限公司
IPC分类号： G09G3/34
摘要： 一种电子墨水屏的控制方法，电子墨水屏包括多个像素，至少一个像素包括第一颜色带电粒子和第二颜色带电粒子，第一颜色带电粒子与第二颜色带电粒子的电性相同，电子墨水屏的控制方法包括：向电子墨水屏中待显示第一颜色的像素输入第一颜色驱动信号(B)。其中，第一颜色驱动信号(B)包括对应多个驱动阶段的多个子信号，多个子信号包括第一颜色成像子信号(B6)和粒子分离子信号(BB’)，粒子分离子信号(BB’)所对应的驱动阶段为第一颜色成像子信号所对应的驱动阶段(Stage6)之前的至少一个驱动阶段(Stage4，Stage5)。粒子分离子信号(BB’)被配置为，驱动像素中第一颜色带电粒子和第二颜色带电粒子运动，并使第一颜色带电粒子和第二颜色带电粒子分离。
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公开(公告)号：CN117157701A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202280000657.0
申请日：2022-03-31
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方智慧电子系统有限公司
IPC分类号： G09G3/34
摘要： 本公开提供一种电子纸显示装置的驱动方法，属于显示技术领域，其可解决现有的电子纸显示装置存在残影的问题。电子纸显示装置的首个驱动阶段为包括第一子均匀化阶段的第一均匀化阶段，平衡阶段在显示阶段之前；本公开的电子纸显示装置的驱动方法包括：根据待显示图像，向需要显示黑色的微结构中的第一电极施加第一驱动信号，向需要显示白色的微结构中的第一电极施加第二驱动信号，向需要显示红色的微结构中的第一电极施加第三驱动信号；向微结构中第二电极施加电压信号，电压信号包括在第一子均匀化阶段的正电压、零电压、负电压依次交替的交流第二脉冲信号，第一电极的第一脉冲信号和第二脉冲信号的有效电压的绝对值相等、电压极性相反。
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公开(公告)号：CN103558230A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201310557179.6
申请日：2013-11-11
申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
发明人： 郑恒
IPC分类号： G01N21/956 , B08B15/04
摘要： 本发明公开了一种光学检测设备，包括检测机台，所述检测机台设置有检测腔体，还包括除尘装置，所述除尘装置设置在所述检测腔体的设备出入口处。该光学检测设备通过在基板进出检测机台的设备出入口的位置增加设置除尘装置，能够在基板通过设备出入口进入检测机台时，通过除尘装置对基板进行整片扫描式除尘，实现对基板表面进行更加良好的清洁效果，进一步解决光学检测设备在对基板表面进行光学检测过程中，由于清洁效果不够良好导致灰尘等细小微粒残留在基板表面导致的光学检测结果产生误判的问题。通过使用上述光学检测设备，能够在对基板进行光学检测之前，利用除尘装置实时地对基板表面进行除尘，避免由于残留微粒导致误判。
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公开(公告)号：CN103558230B
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201310557179.6
申请日：2013-11-11
申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
发明人： 郑恒
IPC分类号： G01N21/956 , B08B15/04
摘要： 本发明公开了一种光学检测设备，包括检测机台，所述检测机台设置有检测腔体，还包括除尘装置，所述除尘装置设置在所述检测腔体的设备出入口处。该光学检测设备通过在基板进出检测机台的设备出入口的位置增加设置除尘装置，能够在基板通过设备出入口进入检测机台时，通过除尘装置对基板进行整片扫描式除尘，实现对基板表面进行更加良好的清洁效果，进一步解决光学检测设备在对基板表面进行光学检测过程中，由于清洁效果不够良好导致灰尘等细小微粒残留在基板表面导致的光学检测结果产生误判的问题。通过使用上述光学检测设备，能够在对基板进行光学检测之前，利用除尘装置实时地对基板表面进行除尘，避免由于残留微粒导致误判。
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公开(公告)号：CN203259482U
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201320216799.9
申请日：2013-04-25
申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
发明人： 郑恒
IPC分类号： G01N21/958
摘要： 本实用新型公开了一种检测装置和系统，所述检测装置包括扫描仪、位移机构以及检测处理设备；其中，所述位移机构，用于使扫描仪与待检测物之间的位置发生相对移动；所述扫描仪，用于根据与待检测物之间位置的相对移动完成对待检测物的扫描，并将扫描所得图像传送给检测处理设备。本实用新型的检测装置和系统能够自动、及时地发现待检测物上的破损，避免有破损的待检测物进入后续处理设备，有利于生产以及对后续处理设备的保护，并且对产品品质的保障也有了显著提高。
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