公开(公告)号：CN101983330A

公开(公告)日：2011-03-02

申请号：CN200980110490.8

申请日：2009-03-23

Applicant: 伊雷克托科学工业股份有限公司

Inventor： 里欧·鲍德温 ,  约瑟·J·伊莫瑞

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/956 ,  G01B11/30 ,  G06T7/00

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01B11/245 ,  G01B11/25 ,  G01N2021/887 ,  G06T7/0006 ,  G06T2207/10012 ,  G06T2207/30164

Abstract: 呈现使用结构化光线用于检测关于所制造物品的符合度与完整度的问题的经改良的方法与装置。使用自相反方向获取的两个或两个以上结构化光线影像来量测配合表面的符合度，同时避免由接缝附近的小缺陷引起的误报。

公开(公告)号：CN101983330B

公开(公告)日：2012-11-07

申请号：CN200980110490.8

申请日：2009-03-23

Applicant: 伊雷克托科学工业股份有限公司

Inventor： 里欧·鲍德温 ,  约瑟·J·伊莫瑞

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/956 ,  G01B11/30 ,  G06T7/00

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01B11/245 ,  G01B11/25 ,  G01N2021/887 ,  G06T7/0006 ,  G06T2207/10012 ,  G06T2207/30164

Abstract: 呈现使用结构化光线用于检测关于所制造物品的符合度与完整度的问题的经改良的方法与装置。使用自相反方向获取的两个或两个以上结构化光线影像来量测配合表面的符合度，同时避免由接缝附近的小缺陷引起的误报。