用于电子装置的改良测试之系统和方法

    公开(公告)号:CN102906578A

    公开(公告)日:2013-01-30

    申请号:CN201180022004.4

    申请日:2011-05-02

    Inventor: 维侬·库克

    CPC classification number: G01R31/2893 G01R31/01

    Abstract: 测试和分类电子装置(34、36)的改良方法,其使用应用于一单一轨道(14)的二或更多个测试站(38、40)和二或更多个分类站(42、44)以改良系统产量。应用二或更多个测试站(38、40)和二或更多个分类站(42、44)至一单一轨道(14)则达成了改良的系统产量,同时增加的系统成本低于每一测试站(38、40)安装重复轨道所预期的成本。

Patent Agency Ranking