张力测量装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102016528B

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN200980114914.8

    申请日:2009-04-24

    CPC classification number: G01L5/102

    Abstract: 本发明公开一种张力测量装置,该张力测量装置即使对绞合线结构的目标对象也能进行具有高灵敏度及较高可再现性的张力测量。围绕作为测量目标对象的长磁性元件(A)的一部分布置的圆筒状磁化器(2)沿纵向将磁性元件(A)直流磁化到接近饱和磁化强度的范围。使用在沿磁畴纵向的中部区域处布置在磁性元件(A)附近的霍尔元件(磁传感器)(4)来检测磁性元件(A)的表面附近的随应力变化而显著不同的空间磁场强度。因此,得到具有高灵敏度及较高可再现性的测量结果。该张力测量装置甚至可用于绞合线结构的目标对象。

    张力测量装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102016528A

    公开(公告)日:2011-04-13

    申请号:CN200980114914.8

    申请日:2009-04-24

    CPC classification number: G01L5/102

    Abstract: 本发明公开一种张力测量装置,该张力测量装置即使对绞合线结构的目标对象也能进行具有高灵敏度及较高可再现性的张力测量。围绕作为测量目标对象的长磁性元件(A)的一部分布置的圆筒状磁化器(2)沿纵向将磁性元件(A)直流磁化到接近饱和磁化强度的范围。使用在沿磁畴纵向的中部区域处布置在磁性元件(A)附近的霍尔元件(磁传感器)(4)来检测磁性元件(A)的表面附近的随应力变化而显著不同的空间磁场强度。因此,得到具有高灵敏度及较高可再现性的测量结果。该张力测量装置甚至可用于绞合线结构的目标对象。

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