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公开(公告)号：CN1352405A
公开(公告)日：2002-06-05
申请号：CN01137702.X
申请日：2001-10-31
Applicant: 保谷株式会社
CPC classification number: B24B9/146
Abstract: 提供了用于将透镜支架安装于眼镜透镜的未切削的透镜的方法以及用于该方法的设备,所述方法能在将透镜支架安装于渐进式多焦透镜或多焦点透镜时有效地将透镜支架安装于无处理干扰的位置。透镜支架可在设置于处理干扰范围之外的位置处安装于未切削的透镜。所述处理干扰的范围是会出现处理干扰的范围即这样的范围,在该范围中,透镜支架构建区的形状的一部分在镜框形状的外部,从而不能对未切削的透镜进行处理。
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公开(公告)号：CN1190684C
公开(公告)日：2005-02-23
申请号：CN01137702.X
申请日：2001-10-31
Applicant: 保谷株式会社
CPC classification number: B24B9/146
Abstract: 提供了用于将透镜支架安装于眼镜镜片的未切削的透镜上的方法以及用于该方法的设备，所述方法能在将透镜支架安装于渐进式多焦点透镜或多焦点透镜时有效地将透镜支架安装于无处理干扰的位置。透镜支架可在设置于处理干扰范围之外的位置处安装于未切削的透镜上。所述处理干扰的范围是会出现处理干扰的范围，即这样的范围，在该范围中，透镜支架构建区的形状的一部分在镜框形状的外部，从而不能对未切削的透镜进行处理。
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公开(公告)号：CN1283416C
公开(公告)日：2006-11-08
申请号：CN03109525.9
申请日：2003-04-08
Applicant: 保谷株式会社
IPC: B24B9/14
CPC classification number: B24B1/00 , B24B9/148 , B24B19/03 , B24B47/225 , G05B2219/36221 , G05B2219/45157
Abstract: 本发明公开了加工透镜的方法及装置，其使得非熟练工人也能在EX透镜等的特殊透镜上形成合适的削面。当在EX透镜上形成削面时，基于透镜凹面曲率的数值确定出削面曲率的数值(S711)；并确定出与透镜凹面弯曲方向相同的一削面曲率初始基准轴(S712)；根据透镜上一最薄部分的厚度值，在最薄部分的圆周边缘上确定出一基准位置(S713)，其中的最薄部分在垂直方向上位于透镜下侧；基于透镜上一最厚部分与最薄部分的厚度之比计算出削面曲率初始基准轴的修正值(S714)，其中的最厚部分在垂直方向上位于透镜的上侧；基于所述修正值确定出一轴线相对于削面曲率初始基准轴方向所成的倾斜角(S715)；以及基于削面曲率的数值、削面的基准位置以及轴线的倾斜角确定出削面的轨迹(S716)。
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公开(公告)号：CN1449892A
公开(公告)日：2003-10-22
申请号：CN03109525.9
申请日：2003-04-08
Applicant: 保谷株式会社
IPC: B24B9/14
CPC classification number: B24B1/00 , B24B9/148 , B24B19/03 , B24B47/225 , G05B2219/36221 , G05B2219/45157
Abstract: 本发明公开了加工透镜的方法及装置，其使得非熟练工人也能在EX透镜等的特殊透镜上形成合适的削面。当在EX透镜上形成削面时，基于透镜凹面曲线的数值确定出削面曲线的数值(S711)；并确定出与透镜凹面弯曲方向相同的一削面曲线初始基准轴(S712)；根据透镜上一最薄部分的厚度值，在最薄部分的圆周边缘上确定出一基准位置(S713)，其中的最薄部分在垂直方向上位于透镜下侧；基于透镜上一最厚部分与最薄部分的厚度之比计算出削面曲线初始基准轴的修正值(S714)，其中的最厚部分在垂直方向上位于透镜的上侧；基于所述修正值确定出一轴线相对于削面曲线初始基准轴方向所成的倾斜角(S715)；以及基于削面曲线的数值、削面的基准位置以及轴线的倾斜角确定出削面的轨迹(S716)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1350194A
公开(公告)日：2002-05-22
申请号：CN01137093.9
申请日：2001-10-23
Applicant: 保谷株式会社
CPC classification number: B24B9/146
Abstract: 获得眼镜光学中心、安装透镜支架和生产透镜的方法及设备,在未切削的透镜的光学表面的位置A0处测量棱镜量值并通过计算获得用于计算光学中心的位置A1。当A0与A1之间的距离等于或小于特定值时,将A0暂时确定为阻挡位置,将A1确定为光学中心。当上述距离超过特定值时,将测量棱镜量值等的位置改变成A1,按类似方式获得第二位置A2。通过执行类似步骤,可确定光学中心并暂时确定阻挡的位置。检查是否会出现处理干扰,在没有干扰时,进行阻挡。在有干扰时,选定无处理干扰的位置并进行阻挡。
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公开(公告)号：CN1229203C
公开(公告)日：2005-11-30
申请号：CN03109526.7
申请日：2003-04-08
Applicant: 保谷株式会社
CPC classification number: B24B19/03 , B24B9/148 , B24B27/0076
Abstract: 本发明公开了一种用于根据镜框形状数据对透镜进行加工的设备，该设备利用简单的结构对小直径透镜进行倒角加工和开槽加工。该设备包括：一个设置在主回转刀具50与精加工单元7之间的夹持轴41，夹持轴支撑着透镜1，使得透镜可自由旋转；一个传感器145，其通过检测夹持轴41转角来检测透镜的位置；一个用来驱动夹持轴41的电机45；一个可根据镜框形状数据和转角将透镜1自由地移向主回转刀具50或精加工单元7的透镜单元4；以及一个可沿夹持轴41轴向方向移动透镜单元4的基座单元2。精加工单元7是由一倒角回转刀具70、一开槽回转刀具71以及一驱动电机72组成的，两回转刀具的位置沿夹持轴41间隔开预定的距离，电机72与两回转刀具70和71相连接。
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公开(公告)号：CN1184505C
公开(公告)日：2005-01-12
申请号：CN01137093.9
申请日：2001-10-23
Applicant: 保谷株式会社
CPC classification number: B24B9/146
Abstract: 在未切削的透镜的光学表面的位置A0处测量棱镜量值并通过计算获得用于计算光学中心的位置A1。当A0与A1之间的距离等于或小于特定值时，将A0暂时确定为阻挡位置，将A1确定为光学中心。当上述距离超过特定值时，将测量棱镜量值等的位置改变成A1，按类似方式获得第二位置A2。通过执行类似步骤，可确定光学中心并暂时确定阻挡的位置。检查是否会出现处理干扰，在没有干扰时，进行阻挡。在有干扰时，选定无处理干扰的位置并进行阻挡。
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公开(公告)号：CN1449881A
公开(公告)日：2003-10-22
申请号：CN03109526.7
申请日：2003-04-08
Applicant: 保谷株式会社
CPC classification number: B24B19/03 , B24B9/148 , B24B27/0076
Abstract: 本发明公开了一种用于根据镜框形状数据对透镜进行加工的设备，该设备利用简单的结构对小直径透镜进行倒角加工和开槽加工。该设备包括：一个设置在主回转刀具50与精加工单元7之间的夹持轴41，夹持轴支撑着透镜1，使得透镜可自由旋转；一个传感器145，其通过检测夹持轴41转角来检测透镜的位置；一个用来驱动夹持轴41的电机45；一个可根据镜框形状数据和转角将透镜1自由地移向主回转刀具50或精加工单元7的透镜单元4；以及一个可沿夹持轴41轴向方向移动透镜单元4的基座单元2。精加工单元7是由一倒角回转刀具70、一开槽回转刀具71以及一驱动电机72组成的，两回转刀具的位置沿夹持轴41间隔开预定的距离，电机72与两回转刀具70和71相连接。
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公开(公告)号：CN1369697A
公开(公告)日：2002-09-18
申请号：CN02103559.8
申请日：2002-02-07
Applicant: 保谷株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/0235
Abstract: 一种测量眼镜片或接触透镜用的自动透镜检测仪,包括一光学系统,在该系统中通过投影由图案产生元件产生的图案而形成图案的像,且根据图案的像从光学系统的光路中没有待检透镜处到光路中具有待检透镜处位移的信息测量待检透镜的光学性能。作为检测图案像位置的图像传感器,采用设置在图案像形成平面上以交叉方式排列的四个线性传感器。该图案产生元件在图案形成平面上形成一具有四边形形状的图案像,且每个线性传感器与四边形的一侧边相交。
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