一种温度梯度下的击穿测试装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113985230A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111273311.1

    申请日:2021-10-29

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及击穿测试装置技术领域,具体涉及一种温度梯度下的击穿测试装置。所述温度梯度下的击穿测试装置包括:壳体;绝缘试样,固定在所述壳体内;高压电极,位于所述壳体内且与所述绝缘试样厚度方向的一侧相接触;低压电极,位于所述壳体内且与所述绝缘试样厚度方向的另一侧相接触;加热机构,适于对所述高压电极或低压电极进行加热。本发明提供的温度梯度下的击穿测试装置,可控制高压电极与低压电极达到不同的温度,形成温度梯度,从而实现温度梯度下的击穿测量,克服了现有技术中击穿测试装置不能满足温度梯度下测量的缺陷。

    一种绝缘试样、加工模具及击穿测试装置

    公开(公告)号:CN216209632U

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202122637364.9

    申请日:2021-10-29

    IPC分类号: G01R31/16

    摘要: 本实用新型涉及绝缘击穿测试装置技术领域,具体涉及一种绝缘试样、加工模具及击穿测试装置。所述绝缘试样包括:试样本体,其内部设有适于容置并引出电极的两个柱状空腔,两个所述柱状空腔间隔共线布置且间距为待测绝缘厚度值,所述试样本体沿所述柱状空腔轴向上的两个端面开设有环形槽,所述柱状空腔位于所述环形槽所围区域内。本实用新型提供的绝缘试样及聚合物厚绝缘击穿测试装置,当进行击穿测试时,试样本体的外侧沿面电场方向部分与闪络发展方向相反,利用自身电场分量可阻止沿面闪络发展,阻止沿面闪络的性能强。