一种温度梯度下的击穿测试装置

    公开(公告)号:CN113985230B

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202111273311.1

    申请日:2021-10-29

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及击穿测试装置技术领域,具体涉及一种温度梯度下的击穿测试装置。所述温度梯度下的击穿测试装置包括:壳体;绝缘试样,固定在所述壳体内;高压电极,位于所述壳体内且与所述绝缘试样厚度方向的一侧相接触;低压电极,位于所述壳体内且与所述绝缘试样厚度方向的另一侧相接触;加热机构,适于对所述高压电极或低压电极进行加热。本发明提供的温度梯度下的击穿测试装置,可控制高压电极与低压电极达到不同的温度,形成温度梯度,从而实现温度梯度下的击穿测量,克服了现有技术中击穿测试装置不能满足温度梯度下测量的缺陷。