一种复合薄膜缺陷识别方法

    公开(公告)号:CN115631173A

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202211336527.2

    申请日:2022-10-28

    摘要: 本发明涉及缺陷识别技术领域,具体涉及一种复合薄膜缺陷识别方法,该方法包括:获取复合薄膜的表面灰度图像,根据灰度值确定疑似存在缺陷的复合薄膜图像;对图像进行分割得到疑似缺陷区域;根据设定尺寸大小的窗口内中心像素点的灰度值与窗口内其他像素点的灰度值差异得到像素点的灰度偏差指标;根据灰度偏差指标将像素点分为三个等级,确定可能缺陷像素点,利用可能缺陷像素点进行区域生长得到可能缺陷区域;获取可能缺陷区域的主成分方向所在线段的端点,根据可能缺陷区域对应的端点之间的距离得到非连通性指标,根据非连通性指标和指标阈值确定连通区域,根据连通区域识别复合薄膜的缺陷,本发明能够获得准确的缺陷识别结果。

    一种复合薄膜缺陷识别方法

    公开(公告)号:CN115631173B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202211336527.2

    申请日:2022-10-28

    摘要: 本发明涉及缺陷识别技术领域,具体涉及一种复合薄膜缺陷识别方法,该方法包括:获取复合薄膜的表面灰度图像,根据灰度值确定疑似存在缺陷的复合薄膜图像;对图像进行分割得到疑似缺陷区域;根据设定尺寸大小的窗口内中心像素点的灰度值与窗口内其他像素点的灰度值差异得到像素点的灰度偏差指标;根据灰度偏差指标将像素点分为三个等级,确定可能缺陷像素点,利用可能缺陷像素点进行区域生长得到可能缺陷区域;获取可能缺陷区域的主成分方向所在线段的端点,根据可能缺陷区域对应的端点之间的距离得到非连通性指标,根据非连通性指标和指标阈值确定连通区域,根据连通区域识别复合薄膜的缺陷,本发明能够获得准确的缺陷识别结果。