基于QPM和BKC技术的光纤折射率与内应力测量装置

    公开(公告)号:CN109883652A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201910248985.2

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本发明涉及一种基于QPM和BKC技术的光纤折射率分布与内应力综合测量装置,属于光学检测领域。该装置包括:激光光源、激光准直器、反射镜、衰减器、起偏器、透镜组、载物台、匹配液池、高精度短线程线性移动平台、步进电机、物镜、补偿器、检偏器、分束器、目镜、CCD、计算机以及待测光纤。通过光路与器件的配合,所述测量装置采用QPM与BKC技术实现了在同一个平台上对光纤折射率及内应力分布的联合测量,测量简单、易操作。同时,所述测量装置的光纤无损测量,排除了截断光纤测量方法中由于切面不平均带来的测量误差。此外,该装置能够实现对所有光纤折射率和内应力分布的精确测量,为空分复用光纤及其他特种光纤的生产和使用提供了切实保障。

    一种光纤掺杂浓度的测量装置

    公开(公告)号:CN109827927A

    公开(公告)日:2019-05-31

    申请号:CN201910248590.2

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本发明公开了一种光纤掺杂浓度的测量装置,属于光纤通信、图像处理领域。该装置由多波长光纤激光光源(1)、准直设备(2)和定量显微折射率测量设备(3)构成。本发明提出了利用光纤折射率分布,测量光纤掺杂浓度的方法。目前,光纤折射率测量装置基于单波长测量,测量结果只能反映光纤掺杂单一材料时的掺杂浓度。本发明采用多波长测量的方法,实现了多种掺杂光纤的掺杂浓度的测量。通过调节多波长光纤激光光源(1),得到不同波长下光纤折射率分布。将实际测量的光纤折射率分布值与根据Sellmeier掺杂公式得到的理论值进行对比,得出所测光纤的实际掺杂材料和浓度。

    一种泄漏高阶模的多层折射率沟壑梯度光纤

    公开(公告)号:CN110780378A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201911105960.3

    申请日:2019-11-13

    Abstract: 本发明涉及一种泄漏高阶模的多层折射率沟壑梯度光纤,属于大功率光纤放大器、激光器、特种光纤领域。光纤结构包括随半径增大而减小的梯度折射率纤芯(1),由低折射率沟壑(2)和(4)以及高折射率环(3)交替环绕构成包层;其中一层低折射率沟壑(4)具有泄漏缝隙。本发明可以利用传统的MCVD法和填充玻璃棒的方法制得。通过在低折射率沟壑开泄漏缝,使得在基模损耗基本不变的情况下高阶模更容易泄漏,可以有效增大高阶模-基模损耗比,实现光纤的单模运行。同时,折射率梯度分布的纤芯具有良好的抗弯曲性能,使得基模分布几乎不随弯曲半径变化,实现了功率输出的稳定性。

    一种基于折射率测量的有源光纤瞬态热效应表征方法

    公开(公告)号:CN117330285A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311277859.2

    申请日:2023-09-28

    Abstract: 本发明公开了一种有源光纤瞬态热效应表征方法,属于光学测量、特种光纤、光学器件领域。该方法包括了一种有源光纤瞬态热效应的测试系统,该系统由泵浦激光器(1)、折射率测量装置(2)和计算设备(3)组成。实验方法为:设置输出光功率并打开泵浦激光器,通光30s后关闭泵浦激光器。关闭泵浦的瞬间,启动光纤折射率测量装置,经过计算设备获得光纤中的折射率分布。调节泵浦激光器的输出功率,得到不同泵浦光功率下有源光纤的折射率分布。分析在不同泵浦光功率下有源光纤的折射率分布变化,即可定量表征出有源光纤内瞬态热效应的影响程度。

    一种监测光纤残余应力对脉冲激光输出影响的装置

    公开(公告)号:CN111751080A

    公开(公告)日:2020-10-09

    申请号:CN201910248596.X

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本发明涉及一种监测光纤残余应力对脉冲激光输出影响的装置,它包括脉冲激光光源1,隔离器2,光纤三维测量装置3,残余应力显示器4和自相关仪6,光纤三维测量装置3中放置待测对称大模场增益光纤5。高精度高灵敏度光纤残余应力测量装置3可以测量低量级的光纤残余应力变化,而残余应力显示器4和自相关仪6分别显示光纤横截面残余应力分布和脉冲波形变化,该装置就可以实时地、可视化地、更加细致和深入地研究光纤残余应力对激光脉冲传输的影响,优化和提高了此方面的研究手段和研究方法,对大模场增益光纤的设计、制作、优化和其在高功率光纤激光器和放大器中的应用提供一定的指导作用。

    一种光纤掺杂浓度的测量装置

    公开(公告)号:CN109827927B

    公开(公告)日:2020-12-25

    申请号:CN201910248590.2

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本发明公开了一种光纤掺杂浓度的测量装置,属于光纤通信、图像处理领域。该装置由多波长光纤激光光源(1)、准直设备(2)和定量显微折射率测量设备(3)构成。本发明提出了利用光纤折射率分布,测量光纤掺杂浓度的方法。目前,光纤折射率测量装置基于单波长测量,测量结果只能反映光纤掺杂单一材料时的掺杂浓度。本发明采用多波长测量的方法,实现了多种掺杂光纤的掺杂浓度的测量。通过调节多波长光纤激光光源(1),得到不同波长下光纤折射率分布。将实际测量的光纤折射率分布值与根据Sellmeier掺杂公式得到的理论值进行对比,得出所测光纤的实际掺杂材料和浓度。

    一种相位延迟量可调的光纤内应力测量装置

    公开(公告)号:CN109827760A

    公开(公告)日:2019-05-31

    申请号:CN201910248599.3

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本发明公开了一种相位延迟量可调的光纤内应力测量装置,属于光纤通信、光电测量,信号处理领域。单纵模激光光源(1)发出的光束经过偏光显微镜(2)的反光镜照射到载物台上的光纤,透射光经过物镜输出到可变补偿器(3),经过可变补偿器(3)的光束通过检偏器后被CCD相机(4)接收。调节可变补偿器(3)的相位延迟量,得到光纤引入延迟量的不同测量结果。对比不同的测量结果,得到同一像素点光强极小值取最小时的延迟量,实现光纤引入延迟量的准确测量。由光纤引入延迟量与内应力之间的函数关系,通过计算得到光纤的内应力分布,实现光纤内应力的测量。

    基于QPM和BKC技术的光纤折射率与内应力测量装置

    公开(公告)号:CN210089976U

    公开(公告)日:2020-02-18

    申请号:CN201920416867.3

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本实用新型涉及一种基于QPM和BKC技术的光纤折射率分布与内应力综合测量装置,属于光学检测领域。该装置包括:激光光源、激光准直器、反射镜、衰减器、起偏器、透镜组、载物台、匹配液池、高精度短线程线性移动平台、步进电机、物镜、补偿器、检偏器、分束器、目镜、CCD、计算机以及待测光纤。通过光路与器件的配合,所述测量装置采用QPM与BKC技术实现了在同一个平台上对光纤折射率及内应力分布的联合测量,测量简单、易操作。同时,所述测量装置的光纤无损测量,排除了截断光纤测量方法中由于切面不平均带来的测量误差。此外,该装置能够实现对所有光纤折射率和内应力分布的精确测量,为空分复用光纤及其他特种光纤的生产和使用提供了切实保障。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

Patent Agency Ranking