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发明公开
一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN119862831A

公开(公告)日：2025-04-22

申请号：CN202510352854.4

申请日：2025-03-24

Applicant: 北京开源芯片研究院

Inventor： 冯瑞宁 , 何志恒 , 何伟 , 唐丹 , 包云岗

IPC: G06F30/333 , G06F30/337

Abstract: 本发明实施例提供了一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述方法包括：对至少一个待控制的时钟门控进行分组，根据时钟门控的组数，确定控制链中控制寄存器的数量；将控制链插入扫描链；根据测试电路中所需的时钟信号，确定待开启的目标时钟门控组；根据目标时钟门控组，向扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，向扫描链的扫描输入端输入测试向量，以通过解复用器输出的使能信号对目标时钟门控组进行控制。本发明实施例通过分组控制各组时钟门控，降低了测试功耗，缩短了测试时间。

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