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发明公开
一种定时抗干扰性能测试方法、装置及存储介质审中-公开

公开(公告)号：CN119561626A

公开(公告)日：2025-03-04

申请号：CN202411636533.9

申请日：2024-11-15

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 郭慧杰 , 张升康 , 王学运 , 杨慧君 , 周超

IPC: H04B17/309 , H04B17/391

Abstract: 本申请提供了一种定时抗干扰性能测试方法、装置及存储介质，其中方法内容包括：采用预构建的分布式定时抗干扰性能测试模型，产生并向目标用时设备发射多方向的定时抗干扰性能测试信号；采用预构建的定时抗干扰性能分类测试模型，接收目标用时设备对定时抗干扰性能测试信号的解算结果，根据解算结果测试目标用时设备的定时抗干扰性能。本申请针对复杂环境下分布式多点协同强干扰情形，对目标用时设备的定时抗干扰性能进行测试，为目标用时设备定时抗干扰性能及时间安全应用能力的提升提供依据。

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