误码测试设备及用于其的信号上升/下降时间校正方法

    公开(公告)号:CN116132002A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202211693660.3

    申请日:2022-12-28

    IPC分类号: H04L1/20 H04L1/24

    摘要: 本发明属于信号上升/下降时间校正技术领域,具体公开了一种误码测试设备及用于其的信号上升/下降时间校正方法。该信号上升/下降时间校正方法包括:步骤S1:根据实际所需输出信号在时钟源上设置输入时钟;步骤S2:使输入时钟以多路形式依次输入至图形产生器、斜率滤波器组以及示波器,示波器示出并记录得到多路输出信号的上升/下降时间的数据;步骤S3:采用枚举法逐个对比多路数据,每路确定一个结果使得各路之间的偏差最小,记录偏差最小时对应的斜率滤波器组的参数,并将参数设置在对应的斜率滤波器组中,以实现对输出信号上升/下降时间的校正。本发明可以解决误码测试设备的多个发射通道间信号上升/下降时间难以到达一致的问题。

    一种室内新型电磁脉冲有界波传输装置

    公开(公告)号:CN117491771A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311422180.8

    申请日:2023-10-30

    IPC分类号: G01R31/00

    摘要: 本发明提供一种室内新型电磁脉冲有界波传输装置,包括脉冲源和与所述脉冲源相连的负载;所述负载包括第一端部和第二端部;所述第一端部用于与所述脉冲源相连,所述第二端部用于与地面相连;所述第二端部在竖直方向上的高度高于地面所处高度。传输装置能够扩大了测试区域,满足大型设备的测试需求。

    用于误码测试设备的图形产生方法及误码测试设备

    公开(公告)号:CN116155458A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211693676.4

    申请日:2022-12-28

    IPC分类号: H04L1/20

    摘要: 本发明属于图形产生技术领域,具体公开了一种用于误码测试设备的图形产生方法及误码测试设备。该图形产生方法包括:步骤S1:在FPGA中设置所需速率的测试图形数据以输出测试信号;步骤S2:使第一端口与第一输入端口导通,第一输入端口与第五动作端导通;步骤S3:使第二端口与第二输入端口导通,第二输入端口与第五动作端导通;步骤S4:使第一动作端与第三输入端口导通;第三输入端口与第五动作端导通;步骤S5:使第二动作端和第三动作端与60G串行器的输入端导通,60G串行器的输出端与第四输入端口导通;第四输入端口与第五动作端导通。本发明可以实现50Mb/s~60Gb/s图形的产生来拓展误码测试设备的应用范围。

    用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备

    公开(公告)号:CN118209789A

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202311871439.7

    申请日:2023-12-29

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 本发明属于微波电场强度测量领域,具体涉及了一种用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备,旨在解决现有技术中对于微波场强,无法做到有效溯源,以及超外差方案场强测量的不确定度较高的问题。本发明包括:调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号,结合微波频率绘制净功率和场强之间的关系图,作为第一关系图,计算第一关系图的斜率k1;调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号,结合加入的耦合光绘制净功率和差频谱峰高度之间的关系图,作为第二关系图,计算第二关系图的斜率k2;基于斜率k1和斜率k2计算得到线性比率K。本发明可以降低里德堡原子场强测量的不确定度,且原理清晰、易于实现与应用。