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公开(公告)号：CN111460455A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN202010201232.9
申请日：2020-03-20
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明涉及固态硬盘技术领域，公开一种自加密固态硬盘的基于密码钥匙的密钥协商方法、安全引导方法。所述密钥协商方法通过密钥钥匙与自加密固态硬盘协商产生会话密钥，通过会话密钥加密或解密KEK，大大提升密钥加密密钥KEK和加密密钥DEK的抗攻击性。自加密固态硬盘的安全引导方法，基于所述密钥协商方法，通过会话密钥解密KEK，再通过KEK来解密自加密固态硬盘的DEK，从而解密自加密固态硬盘完成引导，提升自加密固态硬盘的安全性。
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公开(公告)号：CN110493345A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910785146.4
申请日：2019-08-23
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网福建省电力有限公司电力科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于区块链的物联网终端软件升级方法及系统，该基于区块链的物联网终端软件升级方法包括：第一终端进行某一软件升级后，将该软件的软件升级信息通过共识算法记录在区块链的某个区块上；所述第一终端接收到第二终端发送的软件升级请求后，将相应的软件数据包发送给所述第二终端，其中，所述软件升级请求是所述第二终端在查询到所述区块链中存在新的软件升级信息后发送的。该基于区块链的物联网终端软件升级方法及系统能够适用于物联网海量终端设备场景下的批量升级，软件升级更加及时和可靠。
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公开(公告)号：CN111460455B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202010201232.9
申请日：2020-03-20
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明涉及固态硬盘技术领域，公开一种自加密固态硬盘的基于密码钥匙的密钥协商方法、安全引导方法。所述密钥协商方法通过密钥钥匙与自加密固态硬盘协商产生会话密钥，通过会话密钥加密或解密KEK，大大提升密钥加密密钥KEK和加密密钥DEK的抗攻击性。自加密固态硬盘的安全引导方法，基于所述密钥协商方法，通过会话密钥解密KEK，再通过KEK来解密自加密固态硬盘的DEK，从而解密自加密固态硬盘完成引导，提升自加密固态硬盘的安全性。
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公开(公告)号：CN118966111A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410894545.5
申请日：2024-07-04
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F30/333 , G06F30/327 , G06F21/57
Abstract: 本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种芯片安全检测方法及装置。首先，基于寄存器传输级代码得到获取控制流图和数据依赖图，其中，控制流图包括节点和节点之间的关系，节点表示寄存器传输级代码中的语句，数据依赖图表示寄存器传输级代码中数据之间的依赖关系。然后，基于控制流图进行特征提取，得到节点特征数据以及基于控制流图和数据依赖图进行特征提取，得到变量特征数据。最后，将节点特征数据和变量特征数据输入机器学习模型中进行检测，得到安全检测结果。通过基于寄存器传输级代码得到的获取控制流图和数据依赖图进行特征提取简化了语义特征的提取过程，提升芯片设计安全漏洞检测即芯片安全检测的效率。
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公开(公告)号：CN118280928B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202410181273.4
申请日：2023-12-21
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 南京航空航天大学
IPC: H01L23/00 , G06F30/392 , G06F30/394 , G06F30/398 , G06F18/24 , G06F18/214
Abstract: 本发明公开了一种微粒器件、芯片、电子设备、芯片防护方法、装置及介质。采用微粒器件对芯片进行防护，由于该微粒器件的尺寸极小，相应地提升芯片内部散落微粒器件的数量，提升异常检测覆盖率。通过异构逻辑处理器对相同输入信号进行逻辑运算，得到该相同输入信号对应的多个逻辑运算结果，直接利用多个逻辑运算结果对芯片进行异常检测，不再需要如相关技术中利用不同延迟链输出的信号进行比较，更加及时快速地发现芯片异常，而且异构逻辑处理器中的逻辑运算单元结构简单。另外，相较于相关技术中各延迟线之间具有严格的约束条件，利用异构逻辑处理器对芯片进行防护，其普适性更强，能够更加灵活地在芯片内进行布局，利于提升芯片的安全性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118733369A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410755123.X
申请日：2024-06-12
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/263 , G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种故障注入方法、装置和电子设备，属于芯片技术领域。方法包括：获取待测芯片工作时能量曲线；对能量曲线进行信号处理，以筛选出待测芯片在能量曲线中的执行运算时间区间；基于待测芯片的输入数据与能量曲线的相关性，以及待测芯片输出数据与能量曲线的相关性，计算出执行运算时间区间中的关键时间点；获取待测芯片版图的功能区域分布图；基于功能区域分布图中待故障注入对象的故障防护类型，确定故障注入扫描方式；基于故障注入扫描方式进行故障注入扫描，基于扫描结果确定关键物理位置点。本发明基于时空双域的故障注入方法，从时间域和空间域分别进行关键时间点和关键物理位置点定位，提高故障注入精准度和故障注入攻击效率。
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公开(公告)号：CN118312372B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
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公开(公告)号：CN117457583A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311773106.0
申请日：2023-12-21
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 南京航空航天大学
IPC: H01L23/00 , G06F30/392 , G06F30/394 , G06F30/398 , G06F18/24 , G06F18/214
Abstract: 本发明公开了一种微粒器件、芯片、电子设备、芯片防护方法、装置及介质。采用微粒器件对芯片进行防护，由于该微粒器件的尺寸极小，相应地提升芯片内部散落微粒器件的数量，提升异常监测覆盖率。通过异构逻辑处理器对相同输入信号进行逻辑运算，得到该相同输入信号对应的多个逻辑运算结果，直接利用多个逻辑运算结果对芯片进行异常监测，不再需要如相关技术中利用不同延迟链输出的信号进行比较，更加及时快速地发现芯片异常，而且异构逻辑处理器中的逻辑运算单元结构简单。另外，相较于相关技术中各延迟线之间具有严格的约束条件，利用异构逻辑处理器对芯片进行防护，其普适应更强，能够更加灵活地在芯片内进行布局，利于提升芯片的安全性。
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公开(公告)号：CN119577849A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411453430.9
申请日：2024-10-17
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种设备可信启动验证系统、方法、装置及芯片，属于信息安全技术领域。系统，包括：主控芯片，用于读取存储器中的固件，计算固件的目标度量值，将目标度量值发送至安全芯片；安全芯片，用于根据固件的基准度量值对目标度量值进行验证。本申请通过主控芯片来读取存储器中的固件，无需安全芯片读取固件，能够适配多种不同的外部存储器，提高了验证效率；并且由主控芯片计算固件的目标度量值，计算速度相比于安全芯片更快，进一步提高了验证效率；此外，本申请中主控芯片与安全芯片的协同方式，由于验证过程不需要安全芯片从存储器中读取固件，所以减少了安全芯片与存储器之间的开关选择电路，节省了整体的成本。
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公开(公告)号：CN118312372A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
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