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公开(公告)号：CN110487412B
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN201910749257.X
申请日：2019-08-14
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本申请涉及图像处理技术领域，提供了一种红外高光谱图像非均匀性校正方法、装置、计算机设备和存储介质，包括：获取探测器阵列中各探测单元的响应曲线，将各探测单元的响应曲线归一化得到平均响应曲线；获取各光谱通道的图像，基于平均响应曲线对各光谱通道的图像进行两点法校正，得到各光谱通道上各像素的第一校正系数；根据各第一校正系数对各光谱通道进行非均匀性校正；获取各光谱通道对低温黑体真实响应值和平均响应值的第一差值，并获取各光谱通道对高温黑体真实响应值和平均响应值的第二差值；基于第一差值和第二差值获取光谱通道间的第二校正系数；根据第二校正系数对各光谱通道间进行非均匀性校正。
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公开(公告)号：CN110487412A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910749257.X
申请日：2019-08-14
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本申请涉及图像处理技术领域，提供了一种红外高光谱图像非均匀性校正方法、装置、计算机设备和存储介质，包括：获取探测器阵列中各探测单元的响应曲线，将各探测单元的响应曲线归一化得到平均响应曲线；获取各光谱通道的图像，基于平均响应曲线对各光谱通道的图像进行两点法校正，得到各光谱通道上各像素的第一校正系数；根据各第一校正系数对各光谱通道进行非均匀性校正；获取各光谱通道对低温黑体真实响应值和平均响应值的第一差值，并获取各光谱通道对高温黑体真实响应值和平均响应值的第二差值；基于第一差值和第二差值获取光谱通道间的第二校正系数；根据第二校正系数对各光谱通道间进行非均匀性校正。
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公开(公告)号：CN107084787A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710136229.1
申请日：2017-03-08
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/2823
Abstract: 公开了一种AOTF成像光谱仪光谱定标的温度修正方法，包括：S1、根据声光可调谐滤光器AOTF的工作波段范围选择线性光源，其中，所述线性光源的波长位于AOTF的工作波段范围内；S2、针对每个定标温度，获取光谱定标过程中与所述定标温度对应的超声波驱动频率；S3、基于线性光源的波长、所述每个定标温度以及与每个定标温度对应的超声波驱动频率，拟合调谐曲线中的调谐参数，得到温度修正的调谐曲线。与现有技术相比，本发明能够对传统光谱定标结果进行温度修正，通过将AOTF温度引入定标结果光谱调谐曲线可减小因环境温度变化引入的光谱定标误差，减小外场测量误差、提高成像光谱仪光谱测量精度。
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公开(公告)号：CN107063455A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710160968.4
申请日：2017-03-17
Applicant: 北京环境特性研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J5/52 , G01J2005/0048
Abstract: 公开了中波红外成像光谱仪的辐射和光谱一体化定标方法，涉及地面定标技术领域。本发明在采用黑体对中波红外成像光谱仪进行辐射定标的同时，将聚乙烯薄膜覆盖在黑体上，利用聚乙烯材料在光谱位置2920cm‑1和2850cm‑1处具有稳定吸收峰、并且不易受高温、强光等恶劣条件影响的特点，实现对中波红外成像光谱仪的光谱定标，定标精度高、稳定性好，并且定标设备简单易实现，为中波红外成像光谱仪的定量化应用奠定基础。
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公开(公告)号：CN104713699A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201510057334.7
申请日：2015-02-04
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及一种红外相机在不同环境下的噪声等效温差NETD的测量装置和方法，所述测量装置包括：黑体辐射单元、图像转化单元、温度控制单元、环境模拟单元，以及数据处理单元。温度控制单元与环境模拟单元通信，控制环境模拟单元的环境温度；环境模拟单元的气孔与高纯氩气气源连接。根据本发明的红外相机在不同环境下的噪声等效温差NETD的测量装置能够模拟野外环境下的不同温度环境进行NETD测试，得到不同环境温度的NETD测量结果，从而准确地测量和计算红外相机的有效作用距离，提高红外相机在野外环境下的测量准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111595458B
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202010507683.5
申请日：2020-06-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪辐射定标方法、装置、设备、系统和计算机可存储介质，其中方法包括以下步骤：获取同一曝光时间下不同黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数，再通过调整曝光时间获取各个曝光时间下不同黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数；对各个曝光时间下同一黑体温度对应的红外热像仪响应电荷数进行拟合，得到当前黑体温度对应的电荷通量密度，进而获得不同黑体温度对应的电荷通量密度；对所述不同黑体温度对应的电荷通量密度进行拟合，得到辐射定标系数。本发明获得的辐射定标系数不再依赖于红外热像仪的曝光时间，同时在定标过程中采取全像元定标，消除了测量前的非均匀校正准备工作，大大减小的测量的前期准备时间。
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公开(公告)号：CN109870239B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201910183788.7
申请日：2019-03-12
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法，包括：基于不同目标温度的标准黑体辐射源，在不同环境温度下通过非制冷红外焦平面探测器采集标准黑体辐射源图像，并根据标准黑体辐射源图像计算获得定标曲线；采集非制冷红外焦平面探测器的当前环境温度，并根据所述定标曲线计算当前视场内最高目标温度；使进入当前视场的金属挡片达到所述最高目标温度，再通过非制冷红外焦平面探测器采集金属挡片图像；根据标准黑体辐射源图像与金属挡片图像计算获得校正参数，再根据校正参数对所述定标曲线进行校正，完成定标。本发明在环境及场景发生较大变化时，仍能保证较高的定标精度，从而可使定标后的非制冷红外焦平面探测器具备定量测温能力。
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公开(公告)号：CN105866168B
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201610176997.5
申请日：2016-03-25
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种涂层下基体材料的鉴别方法，包括：利用光脉冲对涂敷涂层的第一目标进行激励，通过红外热像仪采集红外热像图序列；针对第一目标任一点，获取该点的温度‑时间数据，进而获取该点的对数降温曲线；计算对数降温曲线的斜率，进而计算该点的分离特征值；获取第一目标每一点的分离特征值；进而得到第一目标表面灰阶图；获得多个目标中每一目标的表面灰阶图；根据表面灰阶图鉴别多个目标的基体材料；本发明能够通过分析不同基体与涂层对数降温曲线的分离程度，实现涂层下基体材料的检测和识别。
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公开(公告)号：CN107084791A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710294764.X
申请日：2017-04-28
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法，使用了聚乙烯薄膜、面源黑体和傅里叶变换式中波红外光谱仪等物品，经过多个步骤，获取70℃、80℃、90℃时黑体干涉数据和聚乙烯薄膜干涉数据，再将数据进行傅立叶变换，得到70℃、80℃、90℃时黑体和聚乙烯薄膜测量光谱数据；将同一温度下聚乙烯薄膜和黑体测量光谱对应求差值，得到聚乙烯薄膜的特征吸收峰位置曲线，从该曲线得到两个吸收峰位置为A和B；根据吸收峰位置A，经过计算公式计算得到吸收峰位置B对应的光谱位置，至此实现了中波红外光谱仪的光谱定标。与现有技术相比，本发明单次定标精度高、稳定性好，并且节约了成本。
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公开(公告)号：CN105043547B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201510438786.X
申请日：2015-07-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/447
Abstract: 公开了一种AOTF成像光谱仪光谱定标方法，包括：获取不同入射光角度下发生偏振时的波矢量失配依据与不同入射光角度对应的波矢量失配按照公式1对AOTF成像光谱仪的参数进行拟合，获取AOTF成像光谱仪的光谱衍射效率曲线H，作为AOTF成像光谱仪的光谱响应函数。本发明的AOTF成像光谱仪光谱定标方法，通过从矢量失配的角度分析AOTF成像光谱仪空间方向的角度特性，获取AOTF成像光谱仪的精确光谱响应函数H，能够提高光谱定标精度，有利于更精确分析成像光谱仪遥感探测所获取数据立方体信息的可靠性，为地物光谱曲线的准确获取与光谱特征的精确分析提供支撑。
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