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公开(公告)号：CN104677752A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201510109144.5
申请日：2015-03-12
申请人： 北京理工大学
IPC分类号： G01N3/24
摘要： 本发明公开了一种用于金属动静态剪切行为的测试装置，制备的凸型试样同时适用于动态和静态剪切行为测试，并对凸型试样表面制作散斑，利用数字图像相关方法对采集的数据进行计算，获得试样变形应变场相关数据；这种方法可直接观测对试样切区域以及剪切变形的全过程。数据计算过程为，以第一张未发生变形的散斑图片作为参考图片，其他图片为变形图片；在参考图片中选择出需要计算应变的区域，同时在计算应变的区域选择计算相关窗口；之后，根据图像分辨率，确定合适的计算步长，并将相关窗口移动到需要计算应变的区域中应力影响较小区作为计算起始点，开始进行位移计算；计算完成后根据实验要求，选择点、线以及剪切区域进行数据分析。
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公开(公告)号：CN110689725A
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201910834461.1
申请日：2019-09-03
申请人： 北京理工大学
摘要： 本申请公开了一种用于道口综合检查的安保机器人系统及其处理方法。该系统包括人员核查设备，用于核查乘车人的当前身份是否在预存的身份黑名单内、核查乘车人与身份证是否一致；车辆识别与核查设备，用于核查车辆是否为套牌车辆、车牌是否在车牌黑名单内；所述车辆识别与核查设备，还用于识别车辆底部是否存在危险品、是否存在危爆物；如果所述核查设备均查核通过，则道闸抬杆。本申请解决了道口综合检查效率低人力成本高的技术问题。通过本申请实现了在关键卡口、道口等重点区域进行动态监控和主动防控。
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公开(公告)号：CN118887144A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410912099.6
申请日：2024-07-09
申请人： 北京理工大学
摘要： 本发明公开了一种高温变形测量过程中消除热畸变的系统和方法，属于光学测量技术领域，系统包括环境信号采集模块、双波段图像信息采集模块和计算模块；方法包括标定阶段和测量阶段；在标定阶段，环境信号采集模块用于测量相机镜头附近环境空气的状态，双波段图像信息采集模块用于获取特定双波段光的初始散斑图像，计算模块用于计算出特定双波段光的折射率；在测量阶段，双波段图像信息采集模块用于获取高温条件下特定双波段光的散斑图像，推导热畸变消除公式并计算获取消除热畸变之后的位移场。本发明可从根本上彻底消除热畸变，具有更好的高温位移场测量精度，具有更广泛的应用场景和更大的可测温度范围。
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公开(公告)号：CN117232417B
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202311180782.7
申请日：2023-09-13
申请人： 北京理工大学
摘要： 一种基于C3连续性的高阶Hermite有限单元网格分块处理方法，该方法针对在数字图像相关方法中，传统的光学测量方法在振动环境下测得的微小变形场数据误差较大的问题，在数字图像相关方法基础上，构建了分块式的有限单元网络，并考虑了曲率场随机噪声及激振振幅的测量误差，通过广义交叉验证方法，对实验测量的偏转角场进行分析和处理，得到平滑后的薄板离面变形场和曲率场，有效提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN117232417A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311180782.7
申请日：2023-09-13
申请人： 北京理工大学
摘要： 一种基于C3连续性的高阶Hermite有限单元网格分块处理方法，该方法针对在数字图像相关方法中，传统的光学测量方法在振动环境下测得的微小变形场数据误差较大的问题，在数字图像相关方法基础上，构建了分块式的有限单元网络，并考虑了曲率场随机噪声及激振振幅的测量误差，通过广义交叉验证方法，对实验测量的偏转角场进行分析和处理，得到平滑后的薄板离面变形场和曲率场，有效提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN217786524U
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202221758196.7
申请日：2022-07-08
申请人： 北京理工大学
摘要： 本实用新型涉及一种测量薄板在稳态振动作用下变形场的实验系统，属于实验力学变形场测量技术领域。所述实验系统包括含有反射层的薄板，用于调控激振器输出振动频率的示波器，加速度传感器，同步采集仪，光源，CCD相机以及散斑背景板；通过激振器使薄板在一定的频率范围内产生谐振，加速度传感器将采集的振动信号转换为加速度信号并经过信号放大器处理后分流为两束信号分别传输给信号接收模块、同步采集仪，基于同步采集技术使CCD相机能够在振动信号的特定相位点周期性地采集薄板变形图像，之后经过分析计算获得薄板在振动作用下发生弯曲的变形场，该实验系统结构简单，操作简便，测量精度高，测量噪声经一阶数字微分对曲率场精度影响小。
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