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公开(公告)号：CN113777606B
公开(公告)日：2023-12-26
申请号：CN202110921920.7
申请日：2021-08-12
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学前沿技术研究院
IPC分类号： G01S13/90
摘要： 本发明提供一种分布式GEO SAR三维形变反演多角度选取方法及装置，所述方法包括获取分布式GEO SAR系统对观测目标全部照射的空间范围内的速度、坐标、场景坐标，得到三维形变模型系数矩阵；通过各观测角度下的干涉图相位方差获得相位误差的协方差矩阵；根据所述三维形变模型系数矩阵和所述相位误差的协方差矩阵，计算所述分布式GEO SAR系统对观测目标在全部照射时间段内的测量精度系数最小定位精度系数；基于所述分布式GEO SAR系统对观测目标在全部照射时间段内的测量精度系数最小定位精度系数,进行最优组合选择。根据本发明的方案，可有效提高地表三维形变反演精度。
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公开(公告)号：CN113777606A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202110921920.7
申请日：2021-08-12
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学前沿技术研究院
IPC分类号： G01S13/90
摘要： 本发明提供一种分布式GEO SAR三维形变反演多角度选取方法及装置，所述方法包括获取分布式GEO SAR系统对观测目标全部照射的空间范围内的速度、坐标、场景坐标，得到三维形变模型系数矩阵；通过各观测角度下的干涉图相位方差获得相位误差的协方差矩阵；根据所述三维形变模型系数矩阵和所述相位误差的协方差矩阵，计算所述分布式GEO SAR系统对观测目标在全部照射时间段内的测量精度系数最小定位精度系数；基于所述分布式GEO SAR系统对观测目标在全部照射时间段内的测量精度系数最小定位精度系数,进行最优组合选择。根据本发明的方案，可有效提高地表三维形变反演精度。
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公开(公告)号：CN113495271B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202110141893.1
申请日：2021-02-02
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学前沿技术研究院
IPC分类号： G01S13/90
摘要： 本发明公开了一种SAR层析高度向成像方法及系统，涉及合成孔径雷达技术领域，本发明在进行SAR层析时，考虑相关系数的影响，并根据相关系数提高SAR层析的高度向位置估计精度，避免了非强点目标对SAR层析高度向成像精度的影响。具体方案为：针对同一地区，获取其配准后的共N幅SAR图像，N至少为3；根据高度向成像需求确定平面范围内的点；对应任意一个平面点，在N幅SAR图像分别中选取当前平面点对应的像素，得到共N个待处理像素；利用N个待处理像素，对当前平面向点进行高度向散射信息求解；所有平面点的高度向散射信息组成当前地区的高度向成像。
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公开(公告)号：CN114609629A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210093131.3
申请日：2022-01-26
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学前沿技术研究院
摘要： 本发明公开了基于直达波和杂波子空间的GEO星机双基地同步方法，该同步方法在直达波同步的基础上，为了实现直达波斜距相位与同步误差相位的精确分离，先利用三次相位函数提取直达波斜距的高阶项系数，再将场景中提取的静止杂波子空间作为辅助校准源，从该空间中估计出斜距相位产生的多普勒频移误差，实现了直达波斜距相位与同步误差相位的精确分离，从而提高运动目标测速和定位精度。本发明方法不需要实时获取高精度轨道参数，降低同步难度。
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公开(公告)号：CN113156437A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110351415.3
申请日：2021-03-31
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学前沿技术研究院
摘要： 本发明提供一种高轨SAR对低轨SAR成像的射频干扰影响评估方法，可根据高轨SAR与低轨SAR的系统参数以及地面双基地散射系数计算来自高轨SAR的射频干扰信号聚焦后的功率，然后利用低轨SAR信号聚焦后的功率和射频干扰信号聚焦后的功率计算聚焦后图像SINR，从而有效地评估高轨SAR信号对低轨SAR成像产生的影响，实现高轨SAR对低轨SAR射频干扰影响的定量分析，进而判断高轨SAR是否对低轨SAR的成像产生影响。
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公开(公告)号：CN113156437B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202110351415.3
申请日：2021-03-31
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学前沿技术研究院
摘要： 本发明提供一种高轨SAR对低轨SAR成像的射频干扰影响评估方法，可根据高轨SAR与低轨SAR的系统参数以及地面双基地散射系数计算来自高轨SAR的射频干扰信号聚焦后的功率，然后利用低轨SAR信号聚焦后的功率和射频干扰信号聚焦后的功率计算聚焦后图像SINR，从而有效地评估高轨SAR信号对低轨SAR成像产生的影响，实现高轨SAR对低轨SAR射频干扰影响的定量分析，进而判断高轨SAR是否对低轨SAR的成像产生影响。
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公开(公告)号：CN113495271A
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN202110141893.1
申请日：2021-02-02
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学前沿技术研究院
IPC分类号： G01S13/90
摘要： 本发明公开了一种SAR层析高度向成像方法及系统，涉及合成孔径雷达技术领域，本发明在进行SAR层析时，考虑相关系数的影响，并根据相关系数提高SAR层析的高度向位置估计精度，避免了非强点目标对SAR层析高度向成像精度的影响。具体方案为：针对同一地区，获取其配准后的共N幅SAR图像，N至少为3；根据高度向成像需求确定平面范围内的点；对应任意一个平面点，在N幅SAR图像分别中选取当前平面点对应的像素，得到共N个待处理像素；利用N个待处理像素，对当前平面向点进行高度向散射信息求解；所有平面点的高度向散射信息组成当前地区的高度向成像。
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公开(公告)号：CN111505635B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202010298846.3
申请日：2020-04-16
申请人： 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
IPC分类号： G01S13/90
摘要： 本发明提供一种用于相干层析的GEO SAR双星编队构型设计方法，通过获取GEO SAR双星编队主星的轨道根数和相关层析的性能要求；主星的轨道根数包括半长轴ac、离心率ec、倾角ic、升交点赤经Ωc、近地点幅角ωc、平近点角Mc；相关层析的性能要求包括高度向采样参数；根据主星的轨道根数和高度向采样参数，确定GEO SAR双星编队从星的轨道根数，从星的轨道根数包括半长轴ad、离心率ed、倾角id、升交点赤经Ωd、近地点幅角ωd、平近点角Md；能够实现编队GEO SAR垂直基线随重访次数的增加，而按照指定的间隔均匀变化，并且可以最小化各次重访的沿轨基线，提高各次重访主辅图像的相关系数，从而提高层析成像的性能。
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公开(公告)号：CN116679303A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310519335.3
申请日：2023-05-09
申请人： 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
摘要： 本发明提供一种适用于Bi‑GEO SAR的时间同步误差成像影响分析方法，其中，方法包括：获取Bi‑GEO SAR的回波信号数据，根据所述回波信号数据确定平台与待测目标的位置参数；根据预设线性时间同步误差项系数和所述位置参数计算待测目标的方位向偏移；根据所述位置参数和所述方位向偏移计算时域成像算法的相位误差；根据所述方位向偏移计算频域成像算法的相位误差；根据预设随机相位误差标准差和所述位置参数计算成像结果的积分旁瓣比；根据所述时域成像算法的相位误差、频域成像算法的相位误差和所述成像结果的积分旁瓣比判断时间同步误差成像影响。
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公开(公告)号：CN115630481A
公开(公告)日：2023-01-20
申请号：CN202211192982.X
申请日：2022-09-28
申请人： 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心
IPC分类号： G06F30/20 , G06F111/04
摘要： 本发明属于合成孔径雷达技术领域，尤其涉及一种面向重点区域快重访的重轨星座构型设计方法。本发明通过输入参考的准回归轨道卫星参数、卫星入射角范围、期望的星座重轨时间、重点区域地理信息、兴趣指数和粒度信息，以较小的计算量快速确定低轨SAR卫星星座的卫星总数、卫星间的相对位置及参考轨道六根数，构建低轨SAR卫星星座，实现对重点区域的最优观测覆盖和快速重访。
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