浮点数的定和生成方法、相关装置及计算机程序产品

    公开(公告)号:CN114968170B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202210729290.8

    申请日:2022-06-24

    发明人: 付胜伟

    IPC分类号: G06F7/483

    摘要: 本公开提供了浮点数的定和生成方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品,涉及芯片测试、集成电路、数据处理等人工智能技术领域。该方法的一具体实施方式包括:获取浮点数取值区间、目标定和值以及浮点数取值个数,并基于该目标定和值以及浮点数取值个数确定平均值,将该浮点数取值区间拆分为多个取值子区间,基于该取值子区间与该平均值的距离为各取值子区间配置对应的取值数量上限,其中,取值数量上限与该距离成反比,基于定和取值的方式,随机从该浮点数取值区间中提取该浮点数取值个数的浮点数。该实施方式可减缓定和方式下因浮点数取值趋近取值区间端点导致的数据分布离散,丰富浮点数的数据多样性。

    寄存器的验证方法、装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN115080120B

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202210774660.X

    申请日:2022-07-01

    发明人: 付胜伟

    IPC分类号: G06F9/30

    摘要: 本公开提供了一种寄存器的验证方法、装置、设备、介质和程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及语音技术和芯片技术。具体实现方案为:获取寄存器模型集合中寄存器模型的信息,并将所述寄存器模型的信息作为元素保存到寄存器模型队列中;对所述寄存器模型队列中各元素的排列顺序进行打乱处理,得到乱序模型队列;基于所述乱序模型队列中各寄存器模型的排列顺序,对待测设计中与所述各寄存器模型对应的待测寄存器进行验证。本公开可以更加全面地对寄存器进行验证。

    测试用例的提取方法、装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN114880242B

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202210646092.5

    申请日:2022-06-08

    发明人: 付胜伟

    IPC分类号: G06F11/36

    摘要: 本公开提供了一种测试用例的提取方法、装置、设备、介质和程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及测试用例管理和芯片技术。具体实现方案为:根据预先配置的测试用例配置表,生成测试用例数据集,其中,所述测试用例配置表用于记载测试用例及其参数;根据测试指令和所述测试用例数据集提取测试用例。本公开可以提高测试用例的提取效率。

    脚本输入指令的检测方法、装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN114924987A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202210646106.3

    申请日:2022-06-08

    发明人: 付胜伟

    IPC分类号: G06F11/36

    摘要: 本公开提供了一种脚本输入指令的检测方法、装置、设备、介质和程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及脚本检测和芯片技术。具体实现方案为:根据脚本输入指令之间的关系,获取至少一个错误输入指令集;利用所述至少一个错误输入指令集,对目标脚本输入指令集中的错误输入指令进行检测。本公开可以快速检测脚本输入指令的问题,不仅提高了检测效率,而且便于后续脚本的维护。

    寄存器的验证方法、装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN115080120A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210774660.X

    申请日:2022-07-01

    发明人: 付胜伟

    IPC分类号: G06F9/30

    摘要: 本公开提供了一种寄存器的验证方法、装置、设备、介质和程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及语音技术和芯片技术。具体实现方案为:获取寄存器模型集合中寄存器模型的信息,并将所述寄存器模型的信息作为元素保存到寄存器模型队列中;对所述寄存器模型队列中各元素的排列顺序进行打乱处理,得到乱序模型队列;基于所述乱序模型队列中各寄存器模型的排列顺序,对待测设计中与所述各寄存器模型对应的待测寄存器进行验证。本公开可以更加全面地对寄存器进行验证。

    浮点数的定和生成方法、相关装置及计算机程序产品

    公开(公告)号:CN114968170A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210729290.8

    申请日:2022-06-24

    发明人: 付胜伟

    IPC分类号: G06F7/483

    摘要: 本公开提供了浮点数的定和生成方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品,涉及芯片测试、集成电路、数据处理等人工智能技术领域。该方法的一具体实施方式包括:获取浮点数取值区间、目标定和值以及浮点数取值个数,并基于该目标定和值以及浮点数取值个数确定平均值,将该浮点数取值区间拆分为多个取值子区间,基于该取值子区间与该平均值的距离为各取值子区间配置对应的取值数量上限,其中,取值数量上限与该距离成反比,基于定和取值的方式,随机从该浮点数取值区间中提取该浮点数取值个数的浮点数。该实施方式可减缓定和方式下因浮点数取值趋近取值区间端点导致的数据分布离散,丰富浮点数的数据多样性。

    测试用例的提取方法、装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN114880242A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210646092.5

    申请日:2022-06-08

    发明人: 付胜伟

    IPC分类号: G06F11/36

    摘要: 本公开提供了一种测试用例的提取方法、装置、设备、介质和程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及测试用例管理和芯片技术。具体实现方案为:根据预先配置的测试用例配置表,生成测试用例数据集,其中,所述测试用例配置表用于记载测试用例及其参数;根据测试指令和所述测试用例数据集提取测试用例。本公开可以提高测试用例的提取效率。