公开(公告)号：CN104777093A

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201510156228.4

申请日：2015-04-03

申请人： 北京科技大学

发明人： 李晓刚 ,  易盼 ,  肖葵 ,  董超芳 ,  吴俊升 ,  丁康康 ,  王旭

IPC分类号： G01N17/02

摘要： 本发明属于材料腐蚀研究技术领域，特别是涉及一种可在单一或多组分微量气体下实时原位观测试样腐蚀宏观形貌以及薄液膜下的原位电化学的测试装置，所述测试装置包括反应室、微量腐蚀性气体给气系统、薄液膜腐蚀试验反应系统、原位电化学测试系统、原位形貌采集系统，在于提供一种用于微量腐蚀性气体氛围下的薄液膜原位测试装置，解决以往设备使用过程中费用昂贵、操作冗杂、装置精度低、气源单一、没有形貌和电化学原位观测相耦合的问题，实现一种结构简单、操作方便、多组分气源、形貌和电化学原位观测相耦合的高精度ppb级的微量腐蚀性气氛中薄液膜环境测试装置。

公开(公告)号：CN104777093B

公开(公告)日：2018-02-16

申请号：CN201510156228.4

申请日：2015-04-03

申请人： 北京科技大学

发明人： 李晓刚 ,  易盼 ,  肖葵 ,  董超芳 ,  吴俊升 ,  丁康康 ,  王旭

IPC分类号： G01N17/02

摘要： 本发明专利属于材料腐蚀研究技术领域，特别是涉及一种可在单一或多组分微量气体下实时原位观测试样腐蚀宏观形貌以及薄液膜下的原位电化学的测试装置，所述测试装置包括反应室、微量腐蚀性气体给气系统、薄液膜腐蚀试验反应系统、原位电化学测试系统、原位形貌采集系统，在于提供一种用于微量腐蚀性气体氛围下的薄液膜原位测试装置，解决以往设备使用过程中费用昂贵、操作冗杂、装置精度低、气源单一、没有形貌和电化学原位观测相耦合的问题，实现一种结构简单、操作方便、多组分气源、形貌和电化学原位观测相耦合的高精度ppb级的微量腐蚀性气氛中薄液膜环境测试装置。

公开(公告)号：CN204613076U

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201520200936.9

申请日：2015-04-03

申请人： 北京科技大学

发明人： 李晓刚 ,  易盼 ,  肖葵 ,  董超芳 ,  吴俊升 ,  丁康康 ,  王旭

IPC分类号： G01N17/02

摘要： 本实用新型属于材料腐蚀研究技术领域，特别是涉及一种可在单一或多组分微量气体下实时原位观测试样腐蚀宏观形貌以及薄液膜下的原位电化学的测试装置，所述测试装置包括反应室、微量腐蚀性气体给气系统、薄液膜腐蚀试验反应系统、原位电化学测试系统、原位形貌采集系统，在于提供一种用于微量腐蚀性气体氛围下的薄液膜原位测试装置，解决以往设备使用过程中费用昂贵、操作冗杂、装置精度低、气源单一、没有形貌和电化学原位观测相耦合的问题，实现一种结构简单、操作方便、多组分气源、形貌和电化学原位观测相耦合的高精度ppb级的微量腐蚀性气氛中薄液膜环境测试装置。