公开(公告)号：CN110108770B

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN201910389148.1

申请日：2019-05-10

申请人： 北京科技大学

发明人： 白洋 ,  李俊杰 ,  秦士强 ,  李建厅 ,  苏小坡 ,  殷若伟

IPC分类号： G01N27/30 ,  G01N27/26 ,  G01N25/20

摘要： 本发明实施例提出了一种基于空间热成像技术的高通量电卡测试系统，包括：用于承载高通量电卡样品的样品恒温台、温度控制器、红外热像仪、高压放大器、波形发生器；其中所述样品恒温台的表面设有导热绝缘板，所述高通量电卡样品放置在所述样品恒温台表面的导热绝缘板上；且所述样品恒温台上设有遮光暗箱，所述遮光暗箱设置于所述样品恒温台的上表面上以与所述样品恒温台的上表面形成密闭的测试空间，所述红外热像仪和所述高通量电卡样品都设置于所述测试空间内。

公开(公告)号：CN110146754A

公开(公告)日：2019-08-20

申请号：CN201910400002.2

申请日：2019-05-14

申请人： 北京科技大学

发明人： 白洋 ,  殷若伟 ,  李俊杰 ,  李建厅 ,  秦士强 ,  苏小坡

IPC分类号： G01R31/00

摘要： 本发明提供一种高通量电卡性能直接测试系统，属于材料测试技术领域。该测试系统包括高通量电卡样品、可控多路开关、高压放大器、波形发生器、差示扫描量热仪、计算机，其中差示扫描量热仪与计算机连接，高通量电卡样品被固定在差示扫描量热仪内的测试盘上，高通量电卡样品的两端引出高温绝缘漆包线连接至可控多路开关，可控多路开关依次连接高压放大器和波形发生器。该测试系统通过高压放大器、波形发生器对高通量电卡样品施加不同波形和周期的电压；通过可控多路开关对测试周期进行控制；通过差示扫描量热仪将实时的热量变化传输到计算机，能够快速、准确、可靠地测得不同温度、不同电场条件下材料的电卡性能，缩短电卡材料的开发周期。

公开(公告)号：CN110108770A

公开(公告)日：2019-08-09

申请号：CN201910389148.1

申请日：2019-05-10

申请人： 北京科技大学

发明人： 白洋 ,  李俊杰 ,  秦士强 ,  李建厅 ,  苏小坡 ,  殷若伟

IPC分类号： G01N27/30 ,  G01N27/26 ,  G01N25/20

摘要： 本发明实施例提出了一种基于空间热成像技术的高通量电卡测试系统，包括：用于承载高通量电卡样品的样品恒温台、温度控制器、红外热像仪、高压放大器、波形发生器；其中所述样品恒温台的表面设有导热绝缘板，所述高通量电卡样品放置在所述样品恒温台表面的导热绝缘板上；且所述样品恒温台上设有遮光暗箱，所述遮光暗箱设置于所述样品恒温台的上表面上以与所述样品恒温台的上表面形成密闭的测试空间，所述红外热像仪和所述高通量电卡样品都设置于所述测试空间内。