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    温控材料制备及相变温度原位测试装置、方法
    1.
    发明公开
    温控材料制备及相变温度原位测试装置、方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN118010788A

    公开(公告)日：2024-05-10

    申请号：CN202311118092.9

    申请日：2023-08-31

    申请人： 北京航空航天大学

    发明人： 冉先喆 ,  李世松 ,  侯慧龙 ,  王丛瑞 ,  程序

    IPC分类号： G01N25/12 ,  G01J5/48 ,  G05D23/01

    摘要： 本发明提供了一种温控材料制备及相变温度原位测试装置、方法，该温控材料制备及相变温度原位测试装置包括密封罩体以及容纳在所述密封罩体内部的激光成形设备、加热装置和红外图像采集装置。利用该温控材料制备及相变温度原位测试装置实现高通量快速制备多种不同成分配比金属温控材料，同时对其相变温度进行原位快速测试，测量周期短，具有成本低、可靠性高、效率高以及无损测量的优点。