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发明公开
一种芯片与调试装置的安全调试方法、调试装置和芯片审中-实审

公开(公告)号：CN118503029A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410643002.6

申请日：2024-05-22

申请人： 北京芯驰半导体科技股份有限公司

发明人： 陆钊

IPC分类号： G06F11/26 , G06F21/44 , G06F21/55

摘要： 本申请涉及一种芯片与调试装置的安全调试方法、调试装置和芯片，安全调试方法包括如下步骤：由芯片在调试装置发送的调试次数编号与芯片中记录的调试次数编号一致的情况下，生成真随机数；由调试装置基于真随机数和调试次数编号得到第二会话密钥；基于第二时延长度向芯片发送第二会话密钥；由芯片记录第一时间戳；记录接收到第二会话密钥的第二时间戳，得到第二时间戳与第一时间戳的第一差值；在第一差值与第一时延长度的第二差值小于阈值，且第二会话密钥与第一会话密钥一致的情况下，确认调试装置符合安全要求，因此本发明的安全调试方法能够增加非授权调试装置攻击的难度，保护芯片上的敏感数据。