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公开(公告)号：CN113533863A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110699236.9
申请日：2021-06-23
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本公开实施例提供了一种幅值扫描系统，该幅值扫描系统包括支撑板、第一馈源结构和第二馈源结构，支撑板水平设置；第一馈源结构与支撑板连接，第一馈源结构包括第一支架、第一接收馈源及第一射频电缆线，第一支架的一端与支撑板连接，另一端与第一接收馈源连接，第一射频电缆线用于连接第一接收馈源与测量仪表；第二馈源结构与支撑板连接，第二馈源结构包括第二支架、第二接收馈源及第二射频电缆线，第二支架的一端与支撑板连接，另一端与第二接收馈源连接，第二射频电缆线用于连接第二接收馈源与测量仪表；沿支撑板长边方向上第一馈源结构与第二馈源结构之间的距离可调，和/或沿支撑板宽边方向上第一馈源结构与第二馈源结构之间的距离可调。
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公开(公告)号：CN113178706A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110417567.9
申请日：2021-04-19
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本公开实施例提供了一种极化调制天线及通信设备。其中，极化调制天线包括：支架；第一极化转换波导，固定于支架，第一极化转换波导具有第一入射侧和第一出射侧，第一极化转换波导配置为将从第一入射侧入射的第一线极化波转换为从第一出射侧射出的圆极化波；第二极化转换波导，可转动地连接于支架，第二极化转换波导具有第二入射侧和第二出射侧，第二入射侧朝向第一出射侧，第二极化转换波导配置为将从第二入射侧入射的圆极化波转换为从第二出射侧射出的第二线极化波。本公开实施例能够实现对出射电磁波信号进行极化调制，以使获得的电磁波信号的极化方向满足要求。
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公开(公告)号：CN112946373A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110138612.7
申请日：2021-02-01
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明实施例提供了一种基于紧缩场系统的无相位测量方法及装置，方法包括：获取紧缩场系统在静区出射的伪平面波中的目标区域的空域幅值，作为第一空域幅值；获取预设尺寸的第一区域的空间频率域幅值，作为第一空间频率域幅值；执行第一预设算法；判断是否达到第一预设算法的结束条件；如果未达到，基于替换后的第二空间频率域值，更新第一空间频率域值，并返回执行第一预设算法中的步骤；如果达到，基于最终得到的空域相位数据，确定伪平面波中的目标区域的相位测量结果。可见，本方案中，通过多次循环迭代，提高了求解相位测量结果的准确度。
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公开(公告)号：CN112859030A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110141315.8
申请日：2021-02-02
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明实施例提供了一种雷达杂散辐射RCS测量系统，涉及雷达信号处理技术领域，其中水平极化馈源用于发射水平极化波；线极化栅用于使水平极化波沿水平方向传输；紧缩场子系统用于接收水平极化波并将其转换为水平极化准平面波发射；圆极化光栅用于将水平极化准平面波调制为圆极化准平面波发射；还用于将被测目标反射的圆极化准平面波调制为垂直极化准平面波；紧缩场子系统还用于接收垂直极化准平面波并将其转换为垂直极化波发射；线极化栅还用于使垂直极化波沿垂直方向传输；垂直极化馈源用于接收垂直极化波。基于水平极化波与垂直极化波间的差异对被测目标进行RCS测量。应用本发明实施例提供的系统测量RCS，能够提高RCS测量的准确度。
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公开(公告)号：CN112834829A
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN202110156127.2
申请日：2021-02-04
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R29/10
Abstract: 本公开实施例提供了一种紧缩场天线测量系统、构建其的方法、装置及电子设备。紧缩场天线测量系统包括馈源、主反射镜、第一赋形副反射镜和第二赋形副反射镜，其中：第一赋形副反射镜用于将馈源发出的电磁波反射至第二赋形副反射镜；第二赋形副反射镜用于将第一赋形副反射镜反射的电磁波反射至主反射镜；主反射镜用于将第二赋形副反射镜反射的电磁波反射为平面电磁波，平面电磁波形成系统出射场；且，第一赋形副反射镜和/或第二赋形副反射镜的镜面为基于B样条获得的曲面镜面。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112906203B
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202110124282.6
申请日：2021-01-29
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明实施例提供的一种主反射镜仿真设计方法，应用于天线技术领域，可以根据主反射镜的预设缝隙值查找对应的装配误差；以预设缝隙值和装配误差之和为主反射镜中各分块镜之间缝隙的缝隙值，建立主反射镜的仿真模型；对仿真模型进行仿真，得到仿真模型的静区特性参数；根据静区特性参数重新设定预设缝隙值进行迭代；选取迭代过程中，静区特性参数满足设计要求的多次迭代所对应的多个预设缝隙值中的最大值作为设计缝隙值。通过本发明实施例提供的方法，可以在仿真过程中考虑装配误差对主反射镜性能的影响，获取满足设计要求的预设缝隙值的最大缝隙值作为设计缝隙值，从而可以根据设计缝隙值进行分块，保证装配完成后的主反射镜满足设计要求。
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公开(公告)号：CN113533863B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202110699236.9
申请日：2021-06-23
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本公开实施例提供了一种幅值扫描系统，该幅值扫描系统包括支撑板、第一馈源结构和第二馈源结构，支撑板水平设置；第一馈源结构与支撑板连接，第一馈源结构包括第一支架、第一接收馈源及第一射频电缆线，第一支架的一端与支撑板连接，另一端与第一接收馈源连接，第一射频电缆线用于连接第一接收馈源与测量仪表；第二馈源结构与支撑板连接，第二馈源结构包括第二支架、第二接收馈源及第二射频电缆线，第二支架的一端与支撑板连接，另一端与第二接收馈源连接，第二射频电缆线用于连接第二接收馈源与测量仪表；沿支撑板长边方向上第一馈源结构与第二馈源结构之间的距离可调，和/或沿支撑板宽边方向上第一馈源结构与第二馈源结构之间的距离可调。
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公开(公告)号：CN113406401A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110564181.0
申请日：2021-05-24
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明实施例提供了一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法。具体的，首先用探头采集介质透镜离焦平面的实际幅值，再将计算机随机生成的初始幅值与初始相位作为初始场的场强，再将上述初始场经介质透镜传输至离焦平面，计算出频域相位以及频域幅值，将计算得到的频域幅值和频域相位作为频域场的场强，并基于由预设离焦平面的频域场得到的空域场的场强与对应离焦平面实际场的场强，计算异构输入场的场强，再采用GS‑HIO算法对上述异构输入场进行预设次数迭代计算，得到相位恢复结果。本发明实施例中，采用GS‑HIO算法恢复相位，可加快算法的收敛速度，且通过多次迭代计算，提高了通过幅值恢复相位的准确性。
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公开(公告)号：CN112948756B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202110089865.X
申请日：2021-01-22
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明实施例提供了一种阵列辐射方向图的激励值求解方法及装置，方法包括：获取目标辐射方向图；在目标辐射方向图中，确定多个不同的采样点、以及每个采样点对应的目标辐射特性值；构建阵列辐射方向图中每个采样点的辐射特性值表达式；针对每个采样点，构建阵列辐射方向图中该采样点的辐射特性值表达式与目标辐射方向图中该采样点的目标辐射特性值的差值表达式；构建每个采样点对应的差值表达式的绝对值的和表达式、以及每个采样点对应的差值表达式的方差表达式；构建目标函数；求解使目标函数得到最小值的激励幅相值，作为阵列辐射方向图的激励值，以得到更准确的阵列辐射方向图的激励值。
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公开(公告)号：CN113533864B
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202110743674.0
申请日：2021-07-01
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明实施例提供了一种三反射镜紧缩场天线测量系统及其结构和参数确定方法，该系统中，馈源被设置在方向移动装置上，主反射镜大小、曲率固定，两赋形副反射镜均是凹凸性可调的赋形反射镜，其参数以及各反射镜之间的几何关系，基于等效抛物面理论和波束模式展开理论确定，馈源发出的电磁波经第一赋形副反射镜、第二赋形副反射镜及主反射镜反射，形成出射场。本发明实施例提供的三反射镜紧缩场天线测量系统，通过调整方向移动装置使得馈源发出的电磁波辐射方向灵活可调，且两赋形副反射镜的参数以及各个反射镜之间的几何位置关系，可以基于等效抛物面理论和波束模式展开理论计算确定，使得三反射镜紧缩场天线测量系统具有较高的几何设计自由度。
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