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公开(公告)号:CN102156761A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN201010567987.7
申请日:2010-12-01
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明以一种标签天线快速仿真与优化方法为例,提出了一种微波射频器件快速仿真与优化的方法,通过建立已设计标签天线的非线性模型和数据库,用户可以按照需求从数据库中搜索满足条件的天线,并可根据要求改变天线结构尺寸进行仿真或者根据利用优化算法与非线性模型结合的方式优化天线以获得满足所要求读写距离的关键尺寸参数,最后显示仿真与优化结果。上述方法加快了对标签天线的仿真和优化,可用于标签生产厂商的天线设计以及当芯片阻抗在大范围变化的情况下标签天线的快速选型,大大缩短了天线的设计周期。