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发明公开
应用测试方法、装置、电子设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN118013519A

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202311842090.4

申请日：2023-12-28

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 徐国胜 , 王晨宇 , 程宇辉 , 徐国爱

IPC: G06F21/56 , G06F11/36 , G06F9/455

Abstract: 本公开提供一种应用测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：针对待测试应用，创建虚拟机实例；对所述待检测应用的界面进行分析，基于界面分析结果模拟用户行为，并基于模拟的用户行为驱动所述待检测应用在所述虚拟机实例中运行；对所述待检测应用在所述虚拟机实例中运行产生的网络流量信息进行分析，得到所述待测试应用的测试结果。本公开基于对待测试应用的界面分析，模拟用户行为以驱动待检测应用的运行，实现了应用的自动化测试，测试较全面且保证了一定的深度。

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