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发明公开
级联测试方法、装置、电子设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116820863A

公开(公告)日：2023-09-29

申请号：CN202310841393.8

申请日：2023-07-10

申请人： 北京鲲鹏凌昊智能技术有限公司

发明人： 王贵硕 , 王琳熠 , 韩旭 , 田春晖

IPC分类号： G06F11/26 , G06F11/22

摘要： 本发明提供了一种级联测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及自动检测技术领域，包括：响应于测试请求，获取配置数据；基于配置数据包括的测试方式确定测试多个板卡的模式；若模式为级联模式，基于配置数据包括的测试顺序启动第一板卡，在接收到第一板卡的反馈信息后启动第二板卡，并将第一板卡的反馈信息存储至信息库，直至测试完成多个板卡。通过响应于测试请求，获取配置数据，再基于测试方式确定测试多个板卡的模式，在模式为级联模式时，基于测试顺序启动第一板卡，在接收到第一板卡的反馈信息后启动第二板卡，并将第一板卡的反馈信息存储至信息库，直至测试完成多个板卡，不仅提高了上电效率，而且可以定位测试中的错误位置。