公开(公告)号：CN107144628B

公开(公告)日：2020-07-10

申请号：CN201710350073.7

申请日：2017-05-18

申请人： 华中科技大学

发明人： 孙燕华 ,  刘世伟 ,  邓志扬 ,  姜霄园 ,  冯晓宇 ,  谢菲 ,  何岭松 ,  康宜华

IPC分类号： G01N27/83

摘要： 本发明属于电磁无损检测领域，并公开了一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法。其包括(a)将待检测构件磁化,使得该待检测构件在其缺陷处形成漏磁场，该漏磁场是以该缺陷为圆心，半径为r1的微磁源空间域；(b)将设置有磁敏元件的探测磁源在缺陷的上方扫掠经过，使得漏磁场与探测磁源自身的磁场进行磁叠加形成磁扰动，其中，探测磁源自身的磁场是以该探测磁源为圆心，半径为r2的探测磁空间域；(c)在距离待检测构件表面r1+r2的提离范围内磁敏元件拾取磁扰动，从而完成缺陷的电磁检测。通过本发明，实现主动式检测，同时增大检测提离距离，避免传感器紧贴检测时的接触磨损及抖动问题，也实现在同一提离检测状态下检测信号的增大。

公开(公告)号：CN107144628A

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201710350073.7

申请日：2017-05-18

申请人： 华中科技大学

发明人： 孙燕华 ,  刘世伟 ,  邓志扬 ,  姜霄园 ,  冯晓宇 ,  谢菲 ,  何岭松 ,  康宜华

IPC分类号： G01N27/83

摘要： 本发明属于电磁无损检测领域，并公开了一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法。其包括(a)将待检测构件磁化,使得该待检测构件在其缺陷处形成漏磁场，该漏磁场是以该缺陷为圆心，半径为r1的微磁源空间域；(b)将设置有磁敏元件的探测磁源在缺陷的上方扫掠经过，使得漏磁场与探测磁源自身的磁场进行磁叠加形成磁扰动，其中，探测磁源自身的磁场是以该探测磁源为圆心，半径为r2的探测磁空间域；(c)在距离待检测构件表面r1+r2的提离范围内磁敏元件拾取磁扰动，从而完成缺陷的电磁检测。通过本发明，实现主动式检测，同时增大检测提离距离，避免传感器紧贴检测时的接触磨损及抖动问题，也实现在同一提离检测状态下检测信号的增大。