公开(公告)号：CN117665453A

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202311646830.7

申请日：2023-11-30

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 李化 ,  王庚 ,  李征 ,  林福昌 ,  张钦 ,  王燕

IPC: G01R31/00 ,  G01R1/28 ,  G01R1/30 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明公开了一种任意复合电压波形下电子元器件老化试验装置及方法，属于电子元器件加速老化领域，包括上位机、信号发生器、功率放大器、变压器；上位机将提取的复合电压波形输入至信号发生器；信号发生器输出自定义任意电压波形；功率放大器增加输入信号功率幅度；变压器扩大电压幅值变化范围，保证样品两端施加试验电压阈值；样品为电子元器件，在恒温恒湿箱中保证试验的环境条件；分时段测量元件性能参数下降值，探究任意复合电压波形下对电子元器件老化的影响。本发明试验装置简单、测量方法便捷、可操作性强，对研究任意复合电压波形对电子元器件老化影响意义重大。

公开(公告)号：CN119471123A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202411599794.8

申请日：2024-11-11

Applicant: 华中科技大学 ,  广东电网有限责任公司电力科学研究院

Inventor： 李化 ,  王庚 ,  林福昌 ,  蔡玲珑 ,  马志钦 ,  廖梓豪

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/64 ,  G01R19/00

Abstract: 本发明公开了一种薄膜电容器老化加速连续测量和缺陷监测装置及方法，属于自动测量领域。该装置包括：电源控制台、控制模块、电流监测表、单片机控制器、多路复用器、电参数测量仪、上位机和恒温恒湿箱；薄膜电容器试验样品放置于恒温恒湿试验箱内，薄膜电容器试验样品与电源控制台和控制模块连接，薄膜电容器试验样品的待测段与多路复用器连接；控制模块周期性开断薄膜电容器试验样品与电源控制台/多路复用器的连接；多路复用器与电参数测量仪连接，对样品进行参数测量，将参数测量数据发送至上位机进行保存。电流监测表与试验样品连接，进行电流监测，单片机控制器通过电流数据识别缺陷试验样品。同时实现加速老化试验数据的测量和缺陷监测。

公开(公告)号：CN119413288A

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202411475274.6

申请日：2024-10-22

Applicant: 华中科技大学 ,  广东电网有限责任公司电力科学研究院

Inventor： 李化 ,  王庚 ,  林福昌 ,  李谦 ,  蔡玲珑 ,  廖梓豪

IPC: G01J5/48 ,  H01G2/08 ,  H01G4/33 ,  G01J5/00 ,  G01R31/00 ,  H05K7/20

Abstract: 本发明公开了一种薄膜电容器整机热像监测及散热系统及方法，属于薄膜电容器监测领域，该系统采用红外热像技术来研究薄膜电容器整机的热状态，能够对薄膜电容器整机运行时的表面热状态进行可视化成像与实时监测，得到整机运行时的可靠性温升数据，同时为保证整机可靠运行，防止温度过高带来的危害，采用散热装置对其进行有效散热；此外，考虑到红外CCD为精密仪器，其工作环境的温度影响其成像效果，因此设定了针对红外CCD的智能散热系统以及时对其进行降温处理，以降低暗电流噪声，提高图像质量；综上，本发明提供的系统结构简单、监测与散热方法便捷有效、可操作性强。

公开(公告)号：CN119623015A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411625812.5

申请日：2024-11-14

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 王庚 ,  李化 ,  林福昌 ,  张钦

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种薄膜电容器寿命影响因素权重分析方法、装置及存储介质，属于薄膜电容器领域。该方法包括：改变加速老化试验中各影响因素的试验数值，获取对应的m组薄膜电容器样品的寿命参数，得到参考序列X0＝{x0(k)}；影响因素为温度、湿度和电压；k为试验组序号，k＝1,2,…,m；获取各影响因素在不同试验组中的试验数值，分别作为相应影响因素的比较序列，记为Xi＝{xi(k)}，i为影响因素序号，i＝1,2,3，分别对应温度、湿度、电压；采用灰色关联度分析模型计算参考序列与各比较序列间的相关性，作为影响薄膜电容器样品寿命的不同影响因素权重。本方案具有推导严谨，计算准确易行，对于薄膜电容器寿命影响因素权重分析，优化电容器设计、提高产品质量具有重要意义。

公开(公告)号：CN119414120A

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202411542989.9

申请日：2024-10-31

Applicant: 华中科技大学 ,  广东电网有限责任公司电力科学研究院

Inventor： 李化 ,  王庚 ,  林福昌 ,  蔡玲珑 ,  廖梓豪 ,  李谦

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种薄膜电容器参数的自动检测系统及方法，属于元件参数自动测量领域。该自动检测系统包括：上位机、电压源、恒温恒湿试验箱、控制模块和测量模块；薄膜电容器试验样品放置于恒温恒湿试验箱内，薄膜电容器试验样品与电压源和测量模块连接；控制模块与薄膜电容器试验样品连接，控制模块包括高压断路器、定时器和PLC控制器，PLC控制器接收上位机的指令，并向定时器发送控制信号，定时器控制高压断路器周期性开断所述薄膜电容器试验样品与电压源的连接和薄膜电容器试验样品与测量模块的连接；测量模块逐一连接薄膜电容器试验样品的待测段，并对其参数进行测量，将参数测量数据发送至上位机进行保存。实现测量便捷、测试准确度高的效果。