确定芯片测试的输入的方法和装置

    公开(公告)号:CN117217141A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202210626411.6

    申请日:2022-06-02

    IPC分类号: G06F30/3308

    摘要: 本公开的实施例提供了一种确定芯片测试的输入的方法和装置,涉及芯片制造领域。该方法包括:获取随机测试用例;以及使用测试用例搜索模型和经训练的测试用例生成模型,基于随机测试用例确定多个测试用例,多个测试用例将被作为芯片测试的输入。以此方式,本公开的实施例通过经训练的测试用例生成模型,能够确定用于芯片测试的输入的多个测试用例,从而无需将所有可能的测试用例都输入到仿真器,这样能够极大地缩减输入到仿真器的测试用例的数量级。并且,由于经训练的测试用例生成模型已经充分考虑了期望覆盖率,因此,输入到仿真器的部分测试用例的准确率更高,避免对无效测试用例的仿真,这样能够提高芯片测试的整体效率。

    信道信息传输方法及装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116436551A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202111660657.7

    申请日:2021-12-31

    发明人: 郭艳伟 莫勇

    摘要: 本公开提供一种信道信息传输方法,用于节省通信资源。该方法包括:终端设备向接入网设备发送信道反馈信息,该信道反馈信息用于指示第一信道信息的稀疏表示信息,其中,该稀疏表示信息包括M个元素,该M个元素中包括K个非零元素和M‑K个零元素,其中,M和K为正整数;接入网设备根据该稀疏表示信息和信道重构模型恢复得到第一信道信息。