内存错误预测方法、装置及设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116954983A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202210764235.2

    申请日:2022-06-30

    IPC分类号: G06F11/10 G11C29/42

    摘要: 公开了内存错误预测方法、装置及设备,涉及计算机领域。获取到内存错误数据后,基于反映内存错误的时空信息以及内存物理结构,确定受内存错误影响的预测区域和预测区域发生内存错误的时间范围。由于内存中阵列排布的存储单元之间具有连接关系。当至少一个存储单元发生错误时,可能导致与该至少一个存储单元关联的区域也发生错误。如此,依据内存错误数据确定内存中发生错误的位置和发生错误的时间,结合内存物理结构指示的存储单元间的连接关系,从硬件结构的角度深入分析受内存错误影响的潜在风险区域,以及潜在风险区域发生错误的时间范围。相对于仅分析内存错误数据来预测可能发生的错误,能够有效地提高内存错误预测的精准率和覆盖率。

    内存错误预测方法、装置及设备
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118885326A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410784182.X

    申请日:2022-06-30

    IPC分类号: G06F11/10 G11C29/42

    摘要: 公开了内存错误预测方法、装置及设备,涉及计算机领域。获取到内存错误数据后,基于反映内存错误的时空信息以及内存物理结构,确定受内存错误影响的预测区域和预测区域发生内存错误的时间范围。由于内存中阵列排布的存储单元之间具有连接关系。当至少一个存储单元发生错误时,可能导致与该至少一个存储单元关联的区域也发生错误。如此,依据内存错误数据确定内存中发生错误的位置和发生错误的时间,结合内存物理结构指示的存储单元间的连接关系,从硬件结构的角度深入分析受内存错误影响的潜在风险区域,以及潜在风险区域发生错误的时间范围。相对于仅分析内存错误数据来预测可能发生的错误,能够有效地提高内存错误预测的精准率和覆盖率。

    一种数据纠错方法及装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116820829A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202210279415.1

    申请日:2022-03-21

    IPC分类号: G06F11/10

    摘要: 本发明公开了一种数据纠错方法及装置。其中方法应用于存储介质(如内存)中的待纠错数据,待纠错数据设置了列校验信息,列校验信息包括对所述待纠错数据的每一列数据的校验数据,该方法为:确定待纠错数据中的第一行数据包括不可纠正错误,基于所述待纠错数据的列校验信息对所述待纠错数据的每一列数据分别进行纠错,每一列数据中包括第一行数据中的一位数据。对于第一行数据的每一位数据而言,如果该位数据是错误的,那么该位数据所在列进行纠错后,该位数据便会被纠错,从而可以对第一行数据中的不可纠正错误进行纠错。