基于深度学习的单壁碳纳米管三维结构重建方法及系统

    公开(公告)号:CN115661350A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211341076.1

    申请日:2022-10-30

    Abstract: 本发明提供一种基于深度学习的单壁碳纳米管三维结构重建方法及系统,方法包括:构造单壁碳纳米管的电镜模拟像作为数据集;对生成对抗网络模型进行训练;利用训练后的生成对抗网络,从单壁碳纳米管的电镜像,预测图像对应的波函数的振幅像和相位像;从波函数振幅像和相位像,分析碳纳米管上下表面的原子位置;根据上下层的原子位置,填补管壁原子结构信息,重建单壁碳纳米管的三维结构。本发明方法基于人工智能算法,从高分辨电镜像,预测单壁碳纳米管的出射波函数的振幅像和相位像,再利用波函数的振幅像和相位像分析原子位置,最后再重建单壁碳纳米管的三维原子结构。本发明解决了从高分辨的电子显微镜图像到碳纳米管的三维原子结构的预测问题。

    一种高分辨率透射电子显微镜像的像差确定方法及装置

    公开(公告)号:CN118549472A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202411017499.7

    申请日:2024-07-29

    Abstract: 本发明提供一种高分辨率透射电子显微镜像的像差确定方法及装置,针对已知样本采集HRTEM实验像并重建预设晶态材料后表面的平均出射波函数,通过调节平均出射波函数的像差参数得到中间波函数,利用中间波函数生成预设晶态材料后表面的模拟像,通过多轮迭代调节寻找模拟像与实验像相似符合要求的像差参数,并基于模拟像和实验像中的缺陷信息进一步调节二阶慧差提高像差参数的精度,以最终得到高分辨率透射电子显微镜像的检出像差。本申请针对小区域电镜像求解像差参数,克服了传统方法采用非晶像求解像差过程繁杂且偏差较高的问题,可以大大缩小研究人员手动对比寻找像差参数的时间,节约人力成本和时间成本。

    一种高分辨率透射电子显微镜像的像差确定方法及装置

    公开(公告)号:CN118549472B

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202411017499.7

    申请日:2024-07-29

    Abstract: 本发明提供一种高分辨率透射电子显微镜像的像差确定方法及装置,针对已知样本采集HRTEM实验像并重建预设晶态材料后表面的平均出射波函数,通过调节平均出射波函数的像差参数得到中间波函数,利用中间波函数生成预设晶态材料后表面的模拟像,通过多轮迭代调节寻找模拟像与实验像相似符合要求的像差参数,并基于模拟像和实验像中的缺陷信息进一步调节二阶慧差提高像差参数的精度,以最终得到高分辨率透射电子显微镜像的检出像差。本申请针对小区域电镜像求解像差参数,克服了传统方法采用非晶像求解像差过程繁杂且偏差较高的问题,可以大大缩小研究人员手动对比寻找像差参数的时间,节约人力成本和时间成本。

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