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公开(公告)号：CN106405894B
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201611029861.8
申请日：2016-11-15
Applicant: 南京华东电子信息科技股份有限公司 , 南京中电熊猫平板显示科技有限公司
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明提供了一种液晶面板缺陷自动定位方法，驱动液晶面板显示奇数行且奇数列的红色像素点亮画面，输出奇数红色像素画面和缺陷检查画面，同时用相机拍摄两个画面并比对，找出异常点的相机像素坐标位置，计算区域内所有奇数红色像素点的液晶像素坐标与相机像素坐标之间的对应转换关系，根据异常点的相机像素坐标位置和对应转换关系计算出缺陷在液晶面板上的液晶像素坐标。本发明通过相机拍摄的方式以解决无法直接在液晶面板上读出任意缺陷位置坐标的问题，计算相机拍摄画面中相机像素坐标与实际红色点亮液晶像素坐标之间的转换关系，得出缺陷在液晶面板上的坐标位置，该种定位方式成本低廉，无需另购设备的进行缺陷坐标标定，准确性高达98.5%，采用自动定位运算，缺陷坐标标定时间小于0.5S，作业时间短。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106990570A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710391211.6
申请日：2017-05-27
Applicant: 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 , 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 , 南京华东电子信息科技股份有限公司
IPC: G02F1/13
CPC classification number: G02F1/1309
Abstract: 本发明公开了一种液晶面板的最适公共电压测量方法，包括步骤：控制模块向点亮模块提供测试画面和所有待测试公共电压；点亮模块根据控制模块提供的测试画面和所有待测试公共电压控制液晶面板在所有待测试公共电压下显示测试画面；闪烁度获取模块获取液晶面板在每一个待测试公共电压下液晶面板显示测试画面时的所有闪烁度值，并将侦测的所有闪烁度值提供给控制模块；控制模块接收闪烁度获取模块发送的液晶面板在每一个待测试公共电压下液晶面板显示测试画面时的所有闪烁度值，并在所有闪烁度值中获取其中最小闪烁度值对应的待测电压作为最适电压。本发明解决了液晶面板制造业中测量最适电压时间较长且精度差的问题，提升了最适电压的测量能力。
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公开(公告)号：CN106405894A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201611029861.8
申请日：2016-11-15
Applicant: 南京华东电子信息科技股份有限公司
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明提供了一种液晶面板缺陷自动定位方法，驱动液晶面板显示奇数行且奇数列的红色像素点亮画面，输出奇数红色像素画面和缺陷检查画面，同时用相机拍摄两个画面并比对，找出异常点的相机像素坐标位置，计算区域内所有奇数红色像素点的液晶像素坐标与相机像素坐标之间的对应转换关系，根据异常点的相机像素坐标位置和对应转换关系计算出缺陷在液晶面板上的液晶像素坐标。本发明通过相机拍摄的方式以解决无法直接在液晶面板上读出任意缺陷位置坐标的问题，计算相机拍摄画面中相机像素坐标与实际红色点亮液晶像素坐标之间的转换关系，得出缺陷在液晶面板上的坐标位置，该种定位方式成本低廉，无需另购设备的进行缺陷坐标标定，准确性高达98.5%，采用自动定位运算，缺陷坐标标定时间小于0.5S，作业时间短。
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公开(公告)号：CN106646939B
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201611022333.X
申请日：2016-11-17
Applicant: 南京华东电子信息科技股份有限公司 , 南京中电熊猫平板显示科技有限公司
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明公开一种Mura缺陷检出方法，包括以下步骤：手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应缺陷位置，同时设定检查区域大小；根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块；分割好区块后，采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；计算出上述参数后通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置。本发明解决了液晶面板制造业中不定性、不规则Mura及突发不良Mura这类缺陷的漏检问题，并在实际应用中检出效果明显，提升了Mura检出能力，更加有效精准。
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公开(公告)号：CN109164277A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811175634.5
申请日：2018-10-10
Applicant: 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 , 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 , 南京华东电子信息科技股份有限公司
Abstract: 本发明提出一种阻抗测量连接件、阻抗测量仪器及液晶面板阻抗测量方法，该阻抗测量连接件用于电性连接液晶面板上的测试点位和治具的金手指，治具的金手指电性连接电阻测量仪，所述阻抗测量连接件包括：固定模块，将阻抗测量连接件固定在所述治具上；导电胶模块，用于电性连接测试点位和金手指的，其内部具有并列的贯穿排布的多个镂空圆孔。
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公开(公告)号：CN106646939A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611022333.X
申请日：2016-11-17
Applicant: 南京华东电子信息科技股份有限公司
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明公开一种Mura缺陷检出方法，包括以下步骤：手动将液晶面板的矩形检查区域根据实际缺陷的类型移动到面板的对应缺陷位置，同时设定检查区域大小；根据实际缺陷的类型将移动好的检查区域手动等分成若干个小区块；分割好区块后，采集每个区块中各CCD的辉度值，再计算出各区块的平均辉度值、辉度最大值、辉度最小值、辉度标准偏差值这四个参数；计算出上述参数后通过比较之后将异常参数的区块检出，即为缺陷所在的精准位置。本发明解决了液晶面板制造业中不定性、不规则Mura及突发不良Mura这类缺陷的漏检问题，并在实际应用中检出效果明显，提升了Mura检出能力，更加有效精准。
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