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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105973812A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610387816.3
申请日：2016-06-02
Applicant: 南京大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明公开了一种基于Nb5N6探测器的主动太赫兹成像探测系统，包括：位于载物台上的基于YIG振荡器的连续波太赫兹辐射源、基于源延迟线及延迟分束片的准光系统、Nb5N6探测器、电子学系统以及显示模块，所述准光系统包括抛物面镜、源延迟线、延迟分束片以及汇聚镜，所述电子学系统包括信号处理模块、电机控制模块以及扫描成像控制模块。本发明还公开了一种利用上述探测系统的探测方法。本发明实现采用单一太赫兹辐射源，快速的主动太赫兹成像探测。
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公开(公告)号：CN112504998B
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202010988229.6
申请日：2020-09-18
Applicant: 南京大学
IPC: G01N21/3581 , G01N21/55 , G01N21/47
Abstract: 本发明公开了一种泡沫材料的大视场太赫兹无损检测方法，建立收发同路式像方机械旋转镜扫描的太赫兹无损成像系统；构建太赫兹无损成像系统的强度与入射角度的关系模型；利用太赫兹无损成像系统对无缺陷泡沫材料制成的被测物进行太赫兹无损检测成像测试，对无缺陷泡沫材料对应的太赫兹图像数据进行数据拟合，得到强度与入射角度关系的特定曲线；利用太赫兹无损成像系统对有缺陷泡沫材料制成的被测物进行太赫兹无损检测成像测试，结合强度与入射角度关系的特定曲线，对有缺陷泡沫材料对应的太赫兹图像数据进行强度校正，识别缺陷。本发明通过对太赫兹无损成像系统的光反射模型的建立和后期的太赫兹图像处理，使得镜面反射成像和漫反射成像相结合。
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公开(公告)号：CN105973812B
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201610387816.3
申请日：2016-06-02
Applicant: 南京大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明公开了一种基于Nb5N6探测器的主动太赫兹成像探测系统，包括：位于载物台上的基于YIG振荡器的连续波太赫兹辐射源、基于源延迟线及延迟分束片的准光系统、Nb5N6探测器、电子学系统以及显示模块，所述准光系统包括抛物面镜、源延迟线、延迟分束片以及汇聚镜，所述电子学系统包括信号处理模块、电机控制模块以及扫描成像控制模块。本发明还公开了一种利用上述探测系统的探测方法。本发明实现采用单一太赫兹辐射源，快速的主动太赫兹成像探测。
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公开(公告)号：CN112504998A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202010988229.6
申请日：2020-09-18
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种泡沫材料的大视场太赫兹无损检测方法，建立收发同路式像方机械旋转镜扫描的太赫兹无损成像系统；构建太赫兹无损成像系统的强度与入射角度的关系模型；利用太赫兹无损成像系统对无缺陷泡沫材料制成的被测物进行太赫兹无损检测成像测试，对无缺陷泡沫材料对应的太赫兹图像数据进行数据拟合，得到强度与入射角度关系的特定曲线；利用太赫兹无损成像系统对有缺陷泡沫材料制成的被测物进行太赫兹无损检测成像测试，结合强度与入射角度关系的特定曲线，对有缺陷泡沫材料对应的太赫兹图像数据进行强度校正，识别缺陷。本发明通过对太赫兹无损成像系统的光反射模型的建立和后期的太赫兹图像处理，使得镜面反射成像和漫反射成像相结合。
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公开(公告)号：CN205826514U
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201620532141.2
申请日：2016-06-02
Applicant: 南京大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 本实用新型公开了一种基于Nb5N6探测器的主动太赫兹成像探测系统，包括：位于载物台上的基于YIG振荡器的连续波太赫兹辐射源、基于源延迟线及延迟分束片的准光系统、Nb5N6探测器、电子学系统以及显示模块，所述准光系统包括抛物面镜、源延迟线、延迟分束片以及汇聚镜，所述电子学系统包括信号处理模块、电机控制模块以及扫描成像控制模块。本实用新型实现采用单一太赫兹辐射源，快速的主动太赫兹成像探测。
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