公开(公告)号：CN108535305B

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN201810288730.4

申请日：2018-03-30

Applicant: 南京大学

Inventor： 贾小氢 ,  周晓颖 ,  涂学凑 ,  张蜡宝 ,  康琳 ,  吴培亨

IPC: G01N23/2276

Abstract: 本发明公开了一种基于元素成像对超导纳米线进行均匀性分析的方法，包括以下步骤：制备需要进行均匀性分析的纳米线条样品；对选定区域选定元素进行AES元素成像；将所得元素分布强度信息导入MATLAB；对所得信息进行横向分析，标定纳米线过渡区宽度参数；对所得信息进行纵向分析，标定纳米线边缘粗糙度参数。本发明提出了标定纳米线均匀性的参数，并通过实例说明给出了详细的分析方法，所得均匀性分析结果与实际超导纳米线制备情况相符，为判别超导纳米线质量提供了直观的标准。

公开(公告)号：CN108535305A

公开(公告)日：2018-09-14

申请号：CN201810288730.4

申请日：2018-03-30

Applicant: 南京大学

Inventor： 贾小氢 ,  周晓颖 ,  涂学凑 ,  张蜡宝 ,  康琳 ,  吴培亨

IPC: G01N23/2276

CPC classification number: G01N23/2276

Abstract: 本发明公开了一种基于元素成像对超导纳米线进行均匀性分析的方法，包括以下步骤：制备需要进行均匀性分析的纳米线条样品；对选定区域选定元素进行AES元素成像；将所得元素分布强度信息导入MATLAB；对所得信息进行横向分析，标定纳米线过渡区宽度参数；对所得信息进行纵向分析，标定纳米线边缘粗糙度参数。本发明提出了标定纳米线均匀性的参数，并通过实例说明给出了详细的分析方法，所得均匀性分析结果与实际超导纳米线制备情况相符，为判别超导纳米线质量提供了直观的标准。