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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103090977B
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201310031213.6
申请日：2013-01-28
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹信号检测装置，包括集成芯片，所述集成芯片上同时设置低温半导体读出电路和超导体检测器；低温半导体读出电路和超导体检测器相互连通，超导体检测器用于检测太赫兹信号。本发明不仅能降低系统噪声提高超导太赫兹直接检测器的灵敏度、工作稳定性和运行速度，而且还便于设计和制作基于多通道读出电路的太赫兹二维检测阵列的成像系统。本发明将超导体元器件和半导体元器件集成在同一块芯片上，通过微加工技术很容易实现金属薄膜引线。因为集成度提高，也大幅度减少了焊盘从而实现了降低噪声和提高系统运行速度的目的。
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公开(公告)号：CN103162839B
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201310096744.3
申请日：2013-03-25
Applicant: 南京大学
IPC: G01J5/02
Abstract: 本发明公开了一种用于Nb5N6常温太赫兹检测器线阵的读出电路，包括：与Nb5N6常温太赫兹检测器线阵相连接的恒流偏置提供模块，用于对所述检测器提供偏置；与Nb5N6常温太赫兹检测器线阵相连接的多路选择模块，用于将所述Nb5N6常温太赫兹检测器线阵的多路输出信号转变为1路信号；放大与滤波模块，用于对所述1路信号进行放大和滤波。本发明除了能完成一般阵列读出电路所具有的信号放大和多路传输等基本功能外，还具有噪声低的特点，输入噪声的有效值为5uV，电压谱密度在白噪声区域为。本发明对于Nb5N6常温太赫兹检测器线阵在主动成像系统等具体的实际应用中具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN103162839A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201310096744.3
申请日：2013-03-25
Applicant: 南京大学
IPC: G01J5/02
Abstract: 本发明公开了一种用于Nb5N6常温太赫兹检测器线阵的读出电路，包括：与Nb5N6常温太赫兹检测器线阵相连接的恒流偏置提供模块，用于对所述检测器提供偏置；与Nb5N6常温太赫兹检测器线阵相连接的多路选择模块，用于将所述Nb5N6常温太赫兹检测器线阵的多路输出信号转变为1路信号；放大与滤波模块，用于对所述1路信号进行放大和滤波。本发明除了能完成一般阵列读出电路所具有的信号放大和多路传输等基本功能外，还具有噪声低的特点，输入噪声的有效值为5uV，电压谱密度在白噪声区域为。本发明对于Nb5N6常温太赫兹检测器线阵在主动成像系统等具体的实际应用中具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN103090977A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310031213.6
申请日：2013-01-28
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹信号检测装置，包括集成芯片，所述集成芯片上同时设置低温半导体读出电路和超导体检测器；低温半导体读出电路和超导体检测器相互连通，超导体检测器用于检测太赫兹信号。本发明不仅能降低系统噪声提高超导太赫兹直接检测器的灵敏度、工作稳定性和运行速度，而且还便于设计和制作基于多通道读出电路的太赫兹二维检测阵列的成像系统。本发明将超导体元器件和半导体元器件集成在同一块芯片上，通过微加工技术很容易实现金属薄膜引线。因为集成度提高，也大幅度减少了焊盘从而实现了降低噪声和提高系统运行速度的目的。
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公开(公告)号：CN203443670U
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201320137574.4
申请日：2013-03-25
Applicant: 南京大学
IPC: G01J5/02
Abstract: 本实用新型公开了一种用于Nb5N6常温太赫兹检测器线阵的读出电路，包括：与Nb5N6常温太赫兹检测器线阵相连接的恒流偏置提供模块，用于对所述检测器提供偏置；与Nb5N6常温太赫兹检测器线阵相连接的多路选择模块，用于将所述Nb5N6常温太赫兹检测器线阵的多路输出信号转变为1路信号；放大与滤波模块，用于对所述1路信号进行放大和滤波。本实用新型除了能完成一般阵列读出电路所具有的信号放大和多路传输等基本功能外，还具有噪声低的特点，输入噪声的有效值为5uV，电压谱密度在白噪声区域为。本实用新型对于Nb5N6常温太赫兹检测器线阵在主动成像系统等具体的实际应用中具有重要的作用。
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