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发明公开
一种薄壁回转体工件壁厚测量系统审中-实审

公开(公告)号：CN112815886A

公开(公告)日：2021-05-18

申请号：CN202011641852.0

申请日：2020-12-31

申请人： 南京晨光集团有限责任公司

发明人： 张振 , 许有昌 , 卜雄洙 , 丁岳峰 , 胡伟叶 , 孟哲 , 平德佳 , 单政 , 马凯

IPC分类号： G01B17/02 , G01B5/00

摘要： 本发明公开了一种薄壁回转体工件壁厚测量系统，包括超声壁厚测量子系统、工件对中固定子系统、运动扫查子系统、耦合剂供应子系统和软件系统；所述工件对中固定子系统用于固定待测工件；所述运动扫查子系统带动超声壁厚测量子系统实现对待测工件壁厚测量；所述软件系统基于工控机以数据线为介质与超声壁厚测量子系统、测试工件对中固定系统、运动扫查子系统、耦合剂供应子系统进行报数据通讯。本测量系统具有可靠性高、测量重复性好等特点。